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目錄:北京歐屹科技有限公司>> PHL應力雙折射測量儀PA-300-XL

PHL應力雙折射測量儀PA-300-XL
  • PHL應力雙折射測量儀PA-300-XL
參考價 面議
具體成交價以合同協(xié)議為準
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更新時間:2022-03-04 16:02:04瀏覽次數(shù):715評價

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PHL應力雙折射測量儀PA-300-XL:
PA系列是日本Photonic lattice公司傾力打造的雙折射/應力測量儀,PA系列測量雙折射測量范圍達0-130nm,可以測量的樣品范圍從幾個毫米到近500毫米。PA系列雙折射測量儀以其技術(shù)的光子晶體偏光陣列片,*的雙折射算法設計制造,得到每片樣品僅需幾秒鐘的測量能力,使其成為業(yè)內(nèi),特別是工業(yè)界雙折射測量/應力測量的優(yōu)擇。



PHL應力雙折射測量儀PA-300-XL主要特點:

  • 操作簡單,測量速度可以快到3秒。

  • 視野范圍內(nèi)可一次測量,測量范圍廣。

  • 更直觀的全面讀取數(shù)據(jù),無遺漏數(shù)據(jù)點。

  • 具有多種分析功能和測量結(jié)果的比較。

  • 維護簡單,不含旋轉(zhuǎn)光學濾片的機構(gòu)。

  • 高達2056x2464像素的偏振相機。


PHL應力雙折射測量儀PA-300-XL應用領域:

  • 光學鏡片

  • 智能手機玻璃基板

  • A4紙尺寸的樣品


技術(shù)參數(shù):

   項次           項目            具體參數(shù)
1輸出項目相位差【nm】,軸方向【°】,相位差與應力換算(選配)【MPa】

2測量波長520nm

3雙折射測量范圍0-130nm

4測量小分辨率0.001nm

5測量重復精度<1nm(西格瑪)

6視野尺寸40x48mm到240x320mm(標準)

7選配鏡頭視野不適用

8選配功能    實時解析軟件,鏡片解析軟件,數(shù)據(jù)處理軟件,實現(xiàn)外部控制




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