目錄:北京歐屹科技有限公司>> WPA-NIR紅外應力雙折射測量儀
紅外應力雙折射測量儀主要特點:
紅外波長的雙折射/相位差面分布測量
硫系、紅外透明樹脂等的光學畸變評估
小型、簡単操作、高速測量
WPA-NIR能高速的測量/分析波長為850nm或940nm的雙折射分布
安裝既有的操作簡單和實用的軟件WPA-View
可以自由分析任意線上的相位差分布圖形、任意區域內的平均值等的定量數據
可搭配流水線對應的『外部控制選配』,也可應用于量產現場
紅外應力雙折射測量儀主要功能:
高速測量面的雙折射/相位差分布
NIR波長僅需操作鼠標數秒內就能獲取高密度的雙折射/相位差信息
測量數據的保存/讀取簡單快捷
全部的測量結果都可以做保存/讀取,易于跟過去的測量結果做比較等
豐富的圖形創建功能
可以自由制作線圖形和直方圖
測量結果可以在一個圖形上做比較,也可以用CSV格式輸出