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瑞柯儀器FT-104BC粉末顆粒流動性分析儀 參考價:面議
FT-3110系列全自動四探針測試儀 參考價:面議
全量程四探針測試儀 參考價:面議
概述:四探針法,可測微歐到兆歐方阻值量程,采用AD芯片控制,恒流輸出, PC軟件運行,自動數據測量和系數修正,直讀方阻,電阻,電阻率和電導率數據;中文或英文語言...普通四探針電阻率/方阻測試儀 參考價:12346
普通四探針電阻率/方阻測試儀本機配置232電腦接口及USB兩種接口,本機結合采用范德堡測量原理能改善樣品因幾何尺寸、邊界效應、探針不等距和機械游移等外部因素對測...自動粉末電阻率測試儀 參考價:1357
自動粉末電阻率測試儀本自動裝置與粉末電阻率測試儀共同使用通過液晶顯示器來讀取數據及操作.農藥顆粒和粉體流動性行為分析測定測試儀 參考價:34567
農藥顆粒和粉體流動性行為分析測定測試儀本方法適用于測定礦物質載體、粉末制劑和撤布用粉劑等的流動性,但是不能適用于下列物質:1)種子處理用粉劑及其他為抑制飄移性加...粉體散粒物料堆積角/逆止角/休止角測定儀 參考價:12345
粉體散粒物料堆積角/逆止角/休止角測定儀標準規定了散粒物料堆積角的測定方法;適用于連續輸送設備輸送的粒度為 0~50mm的散粒物料的自然堆積角和動態堆積角的測定...粉體壓縮強度測定測試儀 參考價:23456
粉體壓縮強度測定測試儀顆粒在壓縮時要經歷初步壓縮、顆粒重排、初始結構形成、彈性形變、塑性形變、顆粒破碎、結合鍵形成、進一步壓實及去除壓力后的彈性恢復等系列變化,...多環境粉體流動性分析測試測定儀 參考價:7890
多環境粉體流動性分析測試測定儀采用環剪方式在動態的單一或交變的環境下來分析粉體的流變;分析粉體在這些環境下的剪切、固結、時間、應力與應變關系、屈服強度函數實時動...粉末流動性密度測試儀 參考價:23456
FT-102B粉末流動性和密度測試儀FT-102B粉末流動性和密度儀由瑞柯公司ROOKO自主研發生產,具備高精度自動化控制技術;本機型提供中文或者英文兩種語言版...催化劑型堆積密度抗壓測定儀測試儀 參考價:7890
催化劑型堆積密度抗壓測定儀測試儀催化劑樣品在烘箱內干燥1小時后,通過ASTM no40(開口420um)標準篩,取20cm3放到一定尺寸的圓形金屬池,再覆蓋上5...粉體壓縮松裝密度強度測試系統 參考價:12345
粉體壓縮松裝密度強度測試系統可變環境粉體壓縮強度測試系統粉體松裝密度測定儀采用經驗方程法:Heckel、Kawakita、Adams方程及川北方程線性回歸方程的...北京粉末安息角測定儀 粉體測試儀 參考價:456789
北京粉末安息角測定儀 粉體測試儀JIS安息角測定儀,安息角儀 日本標準安息角測定儀測定結果的影響因素主要包括放置工作平臺和裝置本身是否水平,如果不水平會影響粉末...FT-104B休止角流動性測定儀 參考價:面議
FT-104B休止角流動性測定儀在制藥行業中顆粒的休止角,是指松堆積時料堆的圓錐斜面與水平角所夾的角。反映了顆粒摩擦力或顆粒群流動性的大小程度。對于同一種物料,...FT-101斯柯特容量計松裝密度測試儀 參考價:面議
FT-101斯柯特容量計松裝密度測試儀斯柯特容量計法代替國標GB5060—85(金屬粉末松裝密度的測定——第二部分:斯柯特容量計法)研制的粉體松裝密度測試裝置。...表面活性劑粉體休止角測定儀 參考價:面議
表面活性劑粉體休止角測定儀休止角常用的方法是固定圓錐法(亦稱殘留圓錐法)。固定圓錐法將粉體注入到某一有限直徑的圓盤中線上,直到粉體堆積層斜邊的物料沿圓盤邊緣自動...鋁和鋼材料躍遷電阻測試儀 參考價:面議
鋁和鋼材料躍遷電阻測試儀BS EN ISO 18594-2007 電阻點焊、凸焊和縫隙焊接.測定鋁和鋼材料躍遷(過渡)電阻的方法.DVS 2929-1-2014...霍爾流速計/松裝密度測定儀 參考價:面議
霍爾流速計/松裝密度測定儀本裝置適用于用標準漏斗法測定金屬粉末的流動性。凡能自由流過孔徑為2.5mm標準漏斗的粉末,均可采用本裝置。松散物料堆積密度儀 參考價:面議
松散物料堆積密度儀根據標準ISO9136:1989《粗磨粒 堆積密度的測定》和行業標準JB/T7984.2-1999《普通磨料 粗磨粒堆積密度的測定》的相關...瑞柯FT-100E多功能粉末堆密度儀 參考價:面議
瑞柯FT-100E多功能粉末堆密度儀振實密度測試儀、振實密度計、振實密度測定儀、敲擊密度儀、拍擊密度測試儀、粉末體積密度儀等因行業不同和使用環境不同故而有多名之...FT-100E多功能粉末堆密度儀 參考價:面議
FT-100E多功能粉末堆密度儀符合USP(美國藥典)、BP (英國藥典)和EP(歐洲藥典)的規范要求及GB/T 5162-2006/ISO3953:1993(...FT-335普通四探針電阻率/方阻測試儀 參考價:面議
FT-335普通四探針電阻率/方阻測試儀廣泛用于:覆蓋膜;導電高分子膜,高、低溫電熱膜;隔熱、防輻射導電窗膜 導電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標簽、合金類...FT-351高溫四探針電阻率測試儀 參考價:面議
FT-351高溫四探針電阻率測試儀采用由四探針雙電測量方法測試方阻和電阻率系統與高溫試驗箱結合配置的高溫測試探針治具,滿足半導體材料因溫度變化對電阻值變化的測量...FT-336四探針電阻率/方阻測試儀 參考價:面議
FT-336四探針電阻率/方阻測試儀按照硅片電阻率測量的標準(ASTM F84)及標準設計制造該儀器設計符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法...