氣溶膠顆粒的差分電遷移率分級(jí)與分析方法,已被廣泛用于納米級(jí)到微米級(jí)的各類氣溶膠顆粒的測(cè)量。同時(shí),帶電顆粒的電遷移率分級(jí)可獲得粒度可知的單分散顆粒,并用于校準(zhǔn)其他儀器。該方法基于簡(jiǎn)單的物理原理,已成為氣溶膠技術(shù)領(lǐng)域的重要組成部分,如氣溶膠儀器、基于氣溶膠的材料生產(chǎn)、
半導(dǎo)體工業(yè)生產(chǎn)潔凈環(huán)境控制、大氣氣溶膠科學(xué)、工程化納米顆粒表征等。
然而,為準(zhǔn)確使用電遷移率分級(jí)與分析,需充分注意以下問(wèn)題:滑移修正系數(shù)、附著系數(shù)、粒度相關(guān)的氣溶膠顆粒粒度電荷分布,以及將測(cè)量的遷移率分布反演為氣溶膠分布粒度方法。因此,有必要建立運(yùn)用差分電遷移率分析方法對(duì)氣溶膠顆粒分級(jí)的標(biāo)準(zhǔn),為顆粒粒度和數(shù)量濃度的測(cè)量提供一種恰當(dāng)?shù)馁|(zhì)量控制方法。
近日,由江蘇省顆粒學(xué)會(huì) 、南京威普粉體工程有限公司 、淮陰工學(xué)院 、中國(guó)計(jì)量大學(xué) 、南京理工大學(xué) 、蘇顆粒科技南京有限公司等單位起草,TC168(全國(guó)顆粒表征與分檢及篩網(wǎng)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì))歸口的國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)計(jì)劃《粒度分布的測(cè)定 氣溶膠粒子差分電遷移率分析法》征求意見(jiàn)稿已編制完成,現(xiàn)公開(kāi)征求意見(jiàn)。
本文件提供了通過(guò)分析氣溶膠顆粒的電遷移率測(cè)定其粒度分布的方法與要求,通常稱為氣溶膠顆粒差分電遷移率分析法,其適用于測(cè)量粒度范圍為1nm-1μm的顆粒。同時(shí),該文件中還包括不確定度的計(jì)算方法,但不涉及特定儀器設(shè)計(jì)或有特殊要求的粒度分布測(cè)量。
并且該文件不包括在特定標(biāo)準(zhǔn)或指南中定義的差分電遷移率分析系統(tǒng)(DMAS)應(yīng)用的技術(shù)要求和規(guī)范,例如道路車輛應(yīng)用(ISO/TC 22)、環(huán)境測(cè)量(ISO/TC 146)或納米技術(shù)(ISO/TC 229)。
系統(tǒng)與設(shè)備:
基于差分電遷移率分析法,測(cè)量粒度分布的完整DMAS通常具有以下基本組件:預(yù)調(diào)節(jié)器;荷電調(diào)節(jié)器,即顆粒荷電調(diào)節(jié)器;具有流量控制和高壓控制的DEMC;氣溶膠顆粒檢測(cè)器;具有數(shù)據(jù)采集和數(shù)據(jù)分析的系統(tǒng)控制器(通常是計(jì)算機(jī)的內(nèi)置固件或?qū)S密浖?。
定期測(cè)試和校準(zhǔn):
遵循相關(guān)的校準(zhǔn)流程,能保障 DMAS 粒度與濃度測(cè)量誤差在可控范圍內(nèi)。該流程只能由專業(yè)人員操作,并應(yīng)包含零點(diǎn)測(cè)試、流量計(jì)校準(zhǔn)、電壓校準(zhǔn)、顆粒荷電調(diào)節(jié)器測(cè)試、粒度測(cè)量校準(zhǔn)、粒度精度測(cè)試和數(shù)量濃度校準(zhǔn)等項(xiàng)目。
在固定電壓下使用 DEMC 生成選定粒度的顆粒:
包括多電荷顆粒避免方法、使用認(rèn)證球體進(jìn)行粒度校準(zhǔn)、鞘氣流設(shè)定、總不確定度的計(jì)算等。
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