近日，國科大光電學院孟祥悅副教授課題組及其合作者，選擇了一種有效改善錫基鈣鈦礦薄膜質量的添加劑PAI。從而得到了缺陷態(tài)密度低、結晶度和形貌增強的FASnI3鈣鈦礦薄膜，并通過原位光致發(fā)光熒光光譜測量得到了證實。得益于高極性和高效介電屏蔽效應， FASnI3薄膜還表現出低激子結合能、高載流子遷移率-壽命乘積和高離子遷移活化能。由此制備的FASnI3鈣鈦礦X射線探測器表現出高靈敏度，同時還具有7.95 nGyairs-1的超低檢測限。與鹵化鉛鈣鈦礦器件相比，FASnI3鈣鈦礦X射線探測器具有出色的器件穩(wěn)定性，暗電流漂移受到抑制。此外，在70 nGyairs-1的超低劑量率下也獲得了高對比度敏感成像。
 

　　
       這項工作為探索用于高靈敏度和高穩(wěn)定性X射線探測的鹵化錫鈣鈦礦提供了新思路。這一成果近期發(fā)表在Laser & Photonics Reviews上，孟祥悅為文章通訊作者，課題組博士研究生王煦為第一作者，化學所邊洋爽博士為共同第一作者。