1.操作簡單/快速測定：*的偏振成像傳感器進行簡單的和快速的操作即可測量相位差的分布
2.2D數據的多方面分析功能：二維數據的強大分析功能，能夠直觀解釋被測樣品的特性
3.適用于測試強化玻璃的球晶、金屬晶體和橫截面
4相位差測量儀易于獲取偏光顯微鏡數據資料。可進行反射評價。

日本Photonic-lattice公司成立于1996年，以日本東北大學的光子晶體的研究技術為核心，成立的合資公司，尤其是其光子晶體制造技術世界，并由此開發(fā)出的測量儀器。 

主要產品分四部分：

• n 光子晶體光學元件；
• 雙折射和相位差評價系統；
• 膜厚測試儀；
• 偏振成像相機。

『相位差』『雙折射』『內部應力』測量裝置 WPA/PA系列

• 快速定量測量透明材料和薄膜2維平面內的
• 相位差、雙折射和內部應力應變分布

PA/WPA系統特點：

• 操作簡單/快速測定：*的偏振成像傳感器進行簡單的和快速的操作即可測量相位差的分布
• 2D數據的多方面分析功能：二維數據的強大分析功能，能夠直觀解釋被測樣品的特性。
• 大相位差測試能力（WPA系列）：通過對三組不同波長的測量數據進行計算，WPA系統可以測量出幾千nm范圍內的相位差。

          偏光圖像傳感器的結構和測試原理

顯微鏡視野內的高相位差樣品的雙折射測量 WPA-MICRO

匹配顯微鏡測量雙折射測量光學薄膜、鋼化玻璃、有機晶體薄膜、大分子晶體、金屬晶體、不透明基板等材料

在顯微鏡視場下評估和管理雙折射分布。

產品特點：

 大測試范圍

曲線圖功能

CSV輸出格式

快軸/慢軸選擇

反射評估

l 適用于測試強化玻璃的球晶、金屬晶體和橫截面。

l 易于獲取偏光顯微鏡數據資料?？蛇M行反射評價。