平面材料漫反射率測量系統結構與Omni-DR300 相同，但系統測試光為由下至上8 度角聚焦光路，樣品盛放裝置為160x160mm 平臺，方便放置各類平面待測物，如各類功能性布料。

Omni-DR600 平面材料漫反射率與透射率測量系統

本系統結構與Omni-DR300 相同，但系統測試光為由下至上8 度角聚焦光路，樣品盛放裝置為160x160mm 平臺，方便放置各類平面待測物，如各類功能性布料。同時，系統整合透過率測量探測器，可測量厚度為5mm 以下的各類透光材料，可將各類透光器件的漫反射率與透過率測量整合成一體。

■ 光譜測量范圍：350-2500nm

■ 光譜分辨率：2nm以下

■ 光譜掃描步距：0.2-100nm可連續設置

■ 波長準確度：優于±0.2nm（紫外-可見區），優于±0.5nm（近紅外區）

■ 光度測量準確度：1%以內（紫外-可見區），2%以內（近紅外區）

■ 光度測量重復性：1% (450nm-1800nm)

■ 測試試樣尺寸(典型)：直徑大于15mm，若同時測試透過率，則樣品厚度必須小于5mm

尺寸圖