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N7788B 光元器件分析儀

1主要特性與技術指標 主要優勢

•通過單次掃描實現高精度： 無需通過多次掃描計算平均值

•高測量速度

•10 秒之內即可完成 C/L 頻帶中的完整測量（無需等待多個平均值）

•穩定性不受光纖移動/振動和漂移的影響

2 描述 

安捷倫制定了使用 N7788B 元器件分析儀進行元器件測量的限制， 其專有技術可與*的瓊斯矩陣本征法（JME）相媲美，瓊斯矩陣本征法是測量光器件的偏振模色散（PMD）或差分群時延（DGD）的標準方法。

安捷倫新的單次掃描技術具有一系列優點，可用于測試全套參數：

•DGD/ PMD

•PDL

•功率/損耗

•TE/TM 損耗

•二階 PMD

•主偏振態（PSP）

•瓊斯和米勒矩陣

用于生產車間的設計

高吞吐量： 在 10 秒鐘內對 C 和 L 頻帶進行全面分析！

軟件驅動程序： 為系統的外部控制提供一系列軟件驅動程序。 這有助于通用 ERP 系統中的輕松集成。

遠程控制： 支持通過 LAN 或互聯網對儀器進行控制， 實現自動操作和故障診斷。

報告生成： 支持生成 PDF 格式的報告。 用戶可以配置所有的內容（包括版圖）。

實時功率讀數： 提供實時功率讀數（支持新器件的光纖耦合），可以對非連接的器件進行高吞吐量測量。

條形碼掃描儀： 支持使用條形碼掃描儀快速傳輸被測器件的序列號。