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SMA-80PF 芯片研發高低溫一體試驗箱

參考價 15600
訂貨量 ≥1
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芯片研發高低溫一體試驗箱
用于檢測材料在各種環境下性能的設備及試驗各種材料耐熱、耐寒、耐干、耐濕性能。適合電子、電器、手機、通訊、儀表、車輛、塑膠制品、金屬、食品、化學、建材、醫療、航天等制品檢測質量之用。

詳細信息 在線詢價

芯片研發高低溫一體試驗箱

 

溫度范圍:150℃~ -20℃150℃~ -40℃150℃~ -70℃

降溫速率:1℃/min或3℃/min

升溫速率:1℃/min或3.7℃/min

 

產品特點:

種類齊全、產品線豐富   

快速溫變試驗箱有150L到1000L規格可供選擇。快速溫度范圍有5℃/分、10℃/分、15℃/分以及20℃分等可供選擇。同等性能的機型中占地面積小。能滿足通用試驗標準。

美觀大方的外觀、精致靈巧的控制器不銹鋼內外膽、易維護壽命長。獨自開發的控制器、使用方便、易拆卸易運輸。豐富實用的配件與選購件鋁制冷凝交換器、渦旋式壓縮機、固態靜電傳感器、低濕度范圍保證了小噪音等項可靠性功能。

生產的可靠性

   

   我司通過了ISO9001以及環境質量體系14000的體系認證,并建立了一套完整的針對于環境試驗設備的研發和生產的質量管理和控制體系。對于每臺產品出廠均會經過嚴格的檢驗測試程序,并對各個系統進行嚴格的調試和測試,出廠前均會進行*試驗,保證每臺產品到達用戶現場*。

滿足試驗標準

 

GJB   150.3高溫試驗

GJB   150.4低溫試驗

IEC68-2-1   試驗A:寒冷

IEC68-2-2   試驗B:干熱

GB   11158《高溫試驗箱技術條件》

GB10586-1《濕熱試驗箱技術條件》

GB/T   2423.2《電工電子產品基本環境試驗規程試驗B:高溫試驗方法》

GB/T   2423.3《電工電子產品基本環境試驗規程試驗Ca:恒定濕熱試驗方法》

等……

 

芯片研發高低溫一體試驗箱

滿足試驗標準:

GB10589-2008《低溫試驗箱技術條件》
GB11158-2008《高溫試驗箱技術條件》
GB10592-2008《高低溫試驗箱技術條件》
GB2423.1-2008《電工電子產品基本試驗規程試驗A:低溫試驗方法》
GB2423.2-2008《電工電子產品基本試驗規程試驗B:高溫試驗方法》
GB2423.4-2008《電工電子產品基本試驗規程試驗Db:交變試驗方法》
GB2424.1-2005《電工電子產品基本環境試驗規程高溫低溫試驗導則》
GB2423.22-2008《電工電子產品基本試驗規程試驗N:溫度變化試驗方法》
GB/T5170.2-2008《電工電子產品環境試驗設備基本參數檢定方法溫度試驗設備》
GB2423.3-2008試驗C《恒定濕熱試驗方法》;
GB2423.4-93試驗D《交變濕熱試驗方法》

 

 

箱體結構

1 整個箱體采用整體結構

2 箱體內側采用1.0mm進口SUS304B不銹鋼板,外側采用1.0mm 冷軋鋼板噴塑,保溫材料采用超細玻璃保溫棉。

3 大門密封采用雙層硅橡膠密封材料。

4 在箱體側面設有帶塞子的φ50mm測試孔,塞子材料為硅橡膠低發泡,能耐高低溫,兼具保溫效能。

5在箱體工作室后側設置有一個空氣調節柜,在其間安裝 加濕器、蒸發器、電加熱器、風機、風機蝸殼等設備。

6 溫度傳感器置于出風口。

7試驗箱內的送風方式為上送風下回風方式制冷系統


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