芯片生產試驗高低溫試驗箱
用于檢測材料在各種環境下性能的設備及試驗各種材料耐熱、耐寒、耐干、耐濕性能。適合電子、電器、通訊、儀表、車輛、塑膠制品、金屬、食品、化學、建材、醫療、航天等制品檢測質量之用。

芯片生產試驗高低溫試驗箱

 可程式恒溫恒濕試驗箱常用的幾種加濕方法如下： 

  1、水噴霧加濕法：分超聲波式、離心噴霧式和水泵噴淋式；    超聲波式加濕原理：在加濕器底部安裝超聲振子，向水中發射超聲波，使水在常溫下直接霧化，霧由恒溫恒濕試驗箱中的風機產生的氣流送入箱中，進行加濕。    離心噴霧式加濕原理：用高速旋轉風機，將水從水槽內吸出，利用離心力將水滴甩出成為極細的水粒，送入恒溫恒濕試驗箱中，與空氣進行熱交換，吸收熱量而蒸發加濕。  

GB/T2423.1-2008 試驗A：低溫試驗方法； GB/T10589-2008 低溫試驗箱技術條件；
GB/T2423.2-2008 試驗B：高溫試驗方法 GB/T11158-2008 高溫試驗箱技術條件；
GB/T2423.3-2006 試驗Cab：恒定濕熱試驗方法； GB/T10586-2006 濕熱試驗箱技術條件；
GB/T2423.4-2008 試驗Db：交變濕熱試驗方法； GB/T10592-2008 高低溫試驗箱技術條件；
GB/T2423.22-2002試驗N：溫度變化試驗方法； GJB150.3 高溫試驗；

使用環境：

⒈允許工作環境：0~35℃ 性能保證環境：5~25℃。

⒉要求安裝地面為水平地面。

⒊試驗箱周圍距離600MM。

恒溫恒濕試驗箱由調溫（加溫、制冷）和增濕兩部分組成。通過安裝在箱體內頂部的旋轉風扇，將空氣排入箱體實現氣體循環、平衡箱體內的溫、濕度，由箱體內置的溫、濕度傳感器采集的數據，傳至溫、濕度控制器（微型信息處理器）進行編輯處理，下達調溫調濕指令，通過空氣加熱單元、冷凝管以及水槽內加熱蒸發單元的共同完成。 
　　恒溫恒濕箱溫度調節是通過箱體內置溫度傳感器，采集數據，經溫度控制器（微型信息處理器）調節，接通空氣加熱單元來實現增加溫度或者調節制冷電磁閥來降低箱體內溫度，以達到控制所需要的溫度。恒溫恒濕箱溫度調節是通過體內置溫度傳感器，采集數據，經濕度控制器（微型信息處理器）調節，接通水槽加熱元件，通過蒸發水槽內的水來實現增加箱體內的濕度或者調節制冷電磁閥來實現去濕作用，以達到控制所需要的濕度。 

芯片生產試驗高低溫試驗箱

溫度范圍：-70℃～150℃（特殊要求: -100℃～150℃液氮）
快溫變范圍：-55℃～80℃

設備結構:

箱體內膽采用進口不銹鋼（SUS304）鏡面板或304B氬弧焊制作而成，箱體外膽采用A3鋼板噴塑；

采用微電腦溫度濕度控制器，控溫控濕精確可靠；

大型觀測視窗附照明燈保持箱內明亮，且采用雙層玻璃，隨時清晰的觀測箱內狀況；

設有獨立限溫報警系統，超過限制溫度即自動中斷，保證實驗安全運行不發生意外；

箱體左側配直徑50mm的測試孔。