光學故障測量儀OCI-T 描述 --> OCI-T光學故障測量儀具有功能齊全、性價比高等特點，可實現從器件到光學鏈路全范圍的精確插損、回損、長度測量。長度測量范圍為10m，精度可達毫米量級，空間分辨率為20μm。非常適用于定量分析，品質監測及故障診斷。

· 可實現從器件到光學鏈路全范圍的精確插損、回損、長度測量

· 長度測量范圍為10m，精度可達毫米量級，空間分辨率為20μm

· 非常適用于定量分析，品質監測及故障診斷

· 無源器件測量

· 光學鏈路測量

類別	指標		單位
長度測量
測量范圍	10	20	m
空間分辨率	20		μm
回損測量
回損動態范圍	65		dB
回損靈敏度	-130		dB
回損測量精度	±0.5		dB
插損測量
插損動態范圍	15		dB
插損測量精度	±0.5		dB
光譜范圍
波段	C band			-
測量時間
單次測量時間	0.2		s
硬件信息
輸入電壓	AC 220/110V；DC 12V		-
通訊接口	USB		-
光纖接口	FC/APC		-
尺寸	390 x 340 x 158		mm
重量	7.5		kg