MicroTEQ-B1顯微光譜測量系統，具備透反射測量功能。系統選用了共焦收光方式，形成了較小的收光面；除此之外，視野+成像+收光+物面的共軛，可使觀察和測試同時進行。系統中的顯微反射測量模塊可適配市面上大部分主流顯微鏡，滿足客戶對顯微鏡的不同需求。
MicroTEQ-B1顯微光譜測量系統，具備透反射測量功能。系統選用了共焦收光方式，形成了較小的收光面；除此之外，視野+成像+收光+物面的共軛，可使觀察和測試同時進行。系統中的顯微反射測量模塊可適配市面上大部分主流顯微鏡，滿足客戶對顯微鏡的不同需求。
成像照片
下圖為使用10X物鏡對50um小孔進行透射率測量時的聚焦和實測畫面。
實測圖譜
系統參數
型號 | MicroTEQ-B1 |
光譜儀 | 可根據情況自行選配 |
顯微反射測量模塊 | 兼容大部分主流顯微鏡 |
尺寸 | 220x172x68 mm |
重量 | 2.8 kg |
支持波段 | 400-700 nm |
反射照明zui大支持相機尺寸 | 1/2” |
測量光斑 |
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