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RK-PCT-350A 芯片級封裝可靠性高壓加速老化測試箱

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WLCSP的可靠性通過對器件進行加速壓力測試來評估,此類測試包括高溫存儲(HTS)、高加速壓力測試(HAST)、高壓鍋測試、溫度循環、高溫工作壽命測試(HTOL)和無偏高加速壓力測試(UHAST)。

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WLCSP的可靠性通過對器件進行加速壓力測試來評估,此類測試包括高溫存儲(HTS)、高加速壓力測試(HAST)高壓鍋測試、溫度循環、高溫工作壽命測試(HTOL)和無偏高加速壓力測試(UHAST)。


二十多年助力于多個行業性能測試解決方案,如科研院所、電池新能源、電子電工、5G半導體、醫療機械等。

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瑞凱儀器HAST高壓加速老化測試箱技術參數:

型號:RK-HAST-650

內箱尺寸 (Φ*D):650*750

外箱尺寸 (W*H*D):1000*1550*1700

溫度范圍:100℃~+155℃"

濕度范圍:65~100R.H

壓力范圍:0.2~3.5kg/cm2(0.05~0.343MPa)

溫度波動度:≤±0.5℃

溫度均勻度:≤±0.5℃(濕度100R.H),≤±1℃(濕度75R.H)

濕度均勻度:≤±3.0R.H

濕度波動度:≤±2.5R.H

外部氣源加壓時間:約5 min

加壓時間:約45 min

外殼材質:不銹鋼板高級烤漆,防腐電解板

內箱材質:SUS316不銹鋼板

保溫材質:玻璃棉保溫層,阻燃等級A1


PCT試驗箱技術參數:

型號:RK-PCT-350A

內箱尺寸(Φ*D)mm:300*340

外箱尺寸(W*H*D):650*200*940

溫度范圍:100℃→+132℃(飽和蒸氣溫度)

壓力范圍:0.2~2kg/cm2(0.05~0. 196MPa)

加壓時間:約45min

溫度均勻度:≤±0.5℃

溫度波動度:≤±0.5℃

濕度范圍:100RH(飽和蒸氣濕度)

解析度:溫度:0.01℃,濕度:0.1RH,壓力:0.1kg/cm,電壓:0.01DCV



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