高壓加速老化測試（PCT）是一個能產生溫度、百分之100濕度、以及壓力的試驗箱，廣泛用于線路板、多層線路板、IC、LCD、磁鐵等。pct試驗箱目的是提高環境應力(如：溫度)與工作應力(施加給產品的電壓、負荷等)，加快試驗過程，縮短產品或系統的壽命試驗時間。

高壓加速老化測試（PCT）是一個能產生溫度、百分之100濕度、以及壓力的試驗箱，廣泛用于線路板、多層線路板、IC、LCD、磁鐵等。pct試驗箱目的是提高環境應力(如：溫度)與工作應力(施加給產品的電壓、負荷等)，加快試驗過程，縮短產品或系統的壽命試驗時間。

測試的目的：

測試半導體封裝之抗濕氣能力，待測品被放置嚴苛的溫濕度以及壓力環境下測試，如果半導體封裝的不好，濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體之中，常見的故障原因：爆米花效應、動金屬化區域腐蝕造成之斷路、封裝體引腳間因污染造成之短路等相關問題。

瑞凱儀器PCT試驗箱技術參數：

型號：RK-PCT-350

內箱尺寸 （Φ*D）：300*450

外箱尺寸 （W*H*D）：650*1200*950

溫度范圍：110℃～147℃（飽和蒸汽溫度）

濕度范圍：100R.H（飽和蒸汽濕度）

壓力范圍：0.2～3.0kg/cm2（0.05~0.294MPa）

溫度波動度：≤±0.5℃

溫度均勻度：≤±0.5℃

加壓時間：約45min

解析度：溫度：0.01℃，濕度：0.1R.H，壓力：0.1kg/cm2，電壓：0.01DCV