美國NIST RM 8988 二氧化.鈦粉體標準品用于評價和校準用于測量0.1μm至0.5μm粒徑范圍內顆粒尺寸分布(PSD)值的設備。PSD值采用激光散射(LLS)和X射線圓盤離心(XDC)兩種常用的PSD值測定方法測定。

美國NIST RM 8988 二氧化.鈦粉體標準品用于評價和校準用于測量0.1μm至0.5μm粒徑范圍內顆粒尺寸分布(PSD)值的設備。PSD值采用激光散射(LLS)和X射線圓盤離心(XDC)兩種常用的PSD值測定方法測定。一個單位的RM 8988由一瓶約6克金紅石二氧化.鈦粉末。

儲存：

RM瓶應在干燥的情況下保持緊蓋，以防止吸收水分，可能導致粉末團塊。

樣品制備和測量程序

美國NIST RM 8988 二氧化.鈦粉體標準品用LLS和XDC技術對10個瓶子中的兩個樣品進行了分析，以測量材料的一個規定百分位數較小的直徑，稱為累積質量分數細化器。百分位數為5、10、i5、20、25、30、35、40、45、50、55、60、65、70、75、80、85和90。對于Cach百分位數來說，每種技術在測量之間變化的唯1實驗環境是一瓶材料。對于每一個累積質量分數更細，測量的顆粒直徑值的10個瓶子被平均，以得到作為參考直徑的值。

LLS技術：

在過濾去離子水中加入約0.4g RM粉末，加入0.01%(質量分數)六偏磷酸鈉的溶液中40 mL。用超聲波探頭將粉末分散在兩次2分鐘的循環中，功率為40w，用冷卻水浴將懸浮液冷卻至室溫。

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