X3PCSR光學鍍膜行業TR透反射測試儀
X3PCSR可廣泛地用于光學、眼鏡片、手機攝像頭、手機觸摸屏、化學、機械等科學研究領域以及光學器材制造、鍍膜行業、寶石業、化學工業、冶金工業等企業事業單位進行快速檢測和精確分析。

名   稱：TR透反射測試儀

型   號：X3PCSR

產   地：上海

儀器用途：

X3PCSR可廣泛地用于光學、眼鏡片、手機攝像頭、手機觸摸屏、化學、機械等科學研究領域以及光學器材制造、鍍膜行業、寶石業、化學工業、冶金工業等企業事業單位進行快速檢測和精確分析。

X3PCSR大平片透反射測試儀主要特點：
X3PCSR型可見分光光度計是一款具有多種大型高級儀器功能的智能型可見分光光度計。儀器具有自動化程度高，功能豐富，可塑性強等特點。隨機標配一份具有多種應用功能的X3PCSR應用軟件您就能得到適合于您個性化要求的樣品分析解決方案。無論您工作在那個行業，都能得到一份“上海析譜”精心為您設計的解決方案! 還增加了,(透射測量,反射測量2套軟件;2套附件(大平片測試附件、反射附件)，滿足不同行業的需求. 
1. 寬大的樣品室，可容納5—100mm各種規格的比色皿；190*120mm大平片導航觸摸屏的反射透射都可量;
2. 設計*的光學系統、高性能全息光柵和接收器確保儀器具有優良的性能指標；
3. 采用單機操作，線性回歸方程測量等；
4. 應用新的微機處理技術使操作更為方便
5.波長，調零全自動，波長最小間隔0.1nm
6.配2套上層軟件，
A透射測量覆蓋所有功能，光譜掃描、時間掃描、DNA專用測試、多波長測試、標準曲線測試等，并且使數據儲存達到無限。
B反射測量，剩余反射測量裝置及測量軟件。
X3PCSR大平片透反射測試儀詳細參數:
波長范圍：325-1100nm
光譜帶寬：1,2,4,5nm狹縫自動可變
圓形樣品最小測試φ2反射率樣品
波長準確度：±0.5nm
波長重復性：0. 2nm
光度準確度：±0.5%T
光度重復性：0.2%T
雜散光：0.1%T（360nm處）
穩定性：±0.001A/h(500nm處)
顯示方式：液晶顯示器
最小分辨率0.1nm
吸光度范圍：-0.3-3.0A，0-200%T
檢測器： 進口硅光二極管
光源： 進口品牌鎢燈
鍵盤： 觸摸式按鍵
數據輸出： RS-232標準接口 /USB接口
打印輸出： 并口
電源： AC 220V/50Hz 或 110V/60Hz
儀器尺寸： 470*380*200mm
機重量： 13kg