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安柏AT2617電容測試儀
AT261X系列是電容測試儀，采用高性能32位ARM微處理器控制的全自動實時檢測的微型臺式儀器。儀器可以選擇200kHz（AT2616）的測試頻率，并可選擇0.1V，0.3V，0.5V和1.0Vrms的測試信號電平。
安柏AT2617電容測試儀
AT261X系列是電容測試儀，采用高性能32位ARM微處理器控制的全自動實時檢測的微型臺式儀器。儀器可以選擇200kHz（AT2616）的測試頻率，并可選擇0.1V，0.3V，0.5V和1.0Vrms的測試信號電平。
主副參數全5位顯示，可以同時顯示Z、R、A、A%的一種。高達0.1%的準確度，使本儀器可滿足自動化設備制造廠家、各元件生產和使用廠家、學校、研究所和計量質檢部門進行精確測試和批量生產的要求。
儀器擁有專業分選功能，具有10組存儲文件，可編程3檔合格檔，1檔附屬檔（副參數不合格），1檔不合格檔和主參數HI/IN/LO檔，可設置百分比分選或絕對值分選，配備USB接口、Handler接口和RS-232C接口改良設計的AT261X，加強了整機抗干擾電路和保護電路，滿足自動化設備（分選機、老化機等）的復雜使用環境。
特征
真彩TFT-LCD顯示。
儲存999個LCD畫面檔案，觸發延遲
校正功能：全量程程開路和短路掃頻清零
校準功能
比較器功能（分選功能）
文件功能：儀器內部Flash存儲器有10個文件可供您用來保存儀器數據，
可編程1～256次平均次數，提供穩定性。
自定義分選結果訊響。
內置RS232C/RS485/USB接口和Handler接口，可選GPIB接口。
SCPI和Modbus 通信協議。
安柏AT2617電容測試儀規格
測量參數 | Cs-Rs, Cs-D, Cp-Rp, Cp-D, Rs-Q,Rp-Q, Z-D, Z-Q |
基本準確度 | 0.1% |
測試頻率 | 100, 120, 1kHz, 10kHz, 100kHz 0.01% |
測試量程 | 自動、手動和標稱量程，9量程 |
測試速度 | 30 次/秒, 10 次/秒, 3 次/秒 |
顯示范圍 | C: 0.0001pF – 9.9999mF |
輸出阻抗 | 30Ω，100Ω |
監視參數 | Z, R, Δ, Δ% |
讀數 | 99999 |
等效方式 | 串聯和并聯等效 |
信號電平 | ACV：10.00mV~2.00V,準確度：10%,CV模式準確度：6% |
平均次數 | 1~256 |
觸發方式 | 內部、手動、外部和遠程 |
觸發延時 | 0.01ms~60s |
比較器 | 合格檔（BIN1-BIN3）：表示主副參數均合格； |
比較方式 | 順序/絕對偏差/相對偏差 |
校準 | 開路清零、短路清零（掃頻和點頻) |
文件 | 內部存儲10個文件 |
數據記錄 | 9999 組文件（.csv) |
訊響功能 | 關/合格/不合格 |
接口 | 處理機（Handler）接口/RS232接口/RS485接口/GPIB接口（選件） |
通訊協議 | SCPI/Modbus |
電源要求 | 90V-260VAC，50Hz至60Hz |
尺寸與重量 | 264(寬)x107(高)x349.5 (深) |
應用
基礎元件和材料測量：電容器、電阻器、變壓器等
元器件入料檢測
電容器分選檢測
用于實驗室質量控制，進料檢驗以及元器件分選
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