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| 光學原子力顯微系統（光學一體機） |
| FM-Nanoview Op-AFM 系統簡介：
◆ 光學金相顯微鏡和原子力顯微鏡一體化設計，功能強大； ◆ 同時具備光學顯微鏡和原子力顯微鏡成像功能，兩者可同時工作，互不影響； ◆ 同時具備光學二維測量和原子力顯微鏡三維測量功能； ◆ 激光檢測頭和樣品掃描臺集成一體，結構非常穩定，抗干擾性強； ◆ 超高倍光學定位系統，實現探針和樣品掃描區域精確定位； ◆ 技術參數 Technical Parameters
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