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當前位置:儀器網 > 產品中心 > 物性測試儀器及設備>其它物性測試儀器及設備>其它> TA610\620\630\631測量(微調)平臺
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TA610測量平臺,齒條升降,立柱可以隨意轉動,用來測量不容易放置的工件,可提高測量精度。 TA620測量平臺,絲桿升降,平臺上設置V型槽,用來測量形狀較小的工件,可提高測量平臺。 TA630微調平臺,X―Y平面轉角,俯仰角。 TA631微調平臺,X―Y平面轉角。 TA630、631都用來較小幅度的,粗確調整被測量工件的位置,提高測量精度。
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