ZEISSMETROTOM1的CT技術便捷，用戶僅需一次掃描即可有效完成復雜的測量與檢測任務，從而對接觸式和光學測量系統無法檢測到的隱蔽的缺陷與內部結構進行測量、分析及檢測

ZEISS METROTOM 1的CT技術便捷，用戶僅需一次掃描即可有效完成復雜的測量與檢測任務，從而對接觸式和光學測量系統無法檢測到的隱蔽的缺陷與內部結構進行測量、分析及檢測。

ZEISS METROTOM 1 優勢

1、看到很小的細節

得益于高解析度的6MP平板探測器

得益于高分辨率的6MP平板探測器 以高分辨率顯現甚至很小的細節。 直徑為150mm的物體可以以65 µm體素大 小進行重建。

2、減少維護

封閉式微焦點X光管

封閉式微焦點X光管 在封閉的發射管內，在制造過程中產生的真空會持續到X光管的整個使用壽命，因此不需要維護。

3、靈巧設計

小巧靈活

小巧靈活 總空間需求小于1.6平方米，因此可以非常靈活地放置。不必為系統后面，上方和右側的服務提供額外的空間。

4、檢測中小型零件

高度或直徑達165mm以內的塑料組件皆可以輕松進行掃描和測量。。

5、操作便捷

輕觸一個按鈕即可進行掃描和分析

CT的簡化設置使得操作非常簡單，而操作員的影響卻很小。 這幾乎沒有差錯的余地，因此對操作人員的培訓也很少。

6、由GOM Volume Inspect支持的強大解決方案

配備的GOM Volume Inspect軟件具備創新的3D體積渲染和所有剖面的3D可視化。借助GOM Volume Inspect，您可洞悉部件內部，分析幾何形狀、孔隙或內部結構以及裝配情況。直觀操作、高性能：CT數據分析從未如此簡單！

ZEISS METROTOM 1 應用

對于中小型塑料零件與小型輕金屬零件，可以實現缺陷檢驗、尺寸誤差彩圖比對與全尺寸量測。

METROTOM全系列