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SS1-STD3 SunScan冠層分析系統

來源：點將（上海）科技股份有限公司 2023年03月29日 08:54

用途：SS1-STD3 SunScan冠層分析系統是一款簡便的測量和分析冠層中入射和透射光合有效輻射（PAR）的系統，提供了關于影響田間作物生長的限制因素的有價值的信息，如葉面積指數（LAI）。本系統不需要等待特殊的天氣條件進行使用，可以在大多數光照條件下進行測量工作。

特點：

·可測量冠層中入射和透射光合有效輻射（PAR）；

·可直接顯示葉面積指數（LAI）；

·陰天和晴天均可使用；

·理想的表型的應用程序。

技術參數：

Sunscan傳感器
探測區域	長1米×寬13毫米，傳感器間距15.6毫米
光譜范圍	400~700nm（PAR）
測量時間	120毫秒
最大讀數	2500 μmol.m-2.s-1
分辨率	0.3 μmol. m-2.s-1
線性	優于1%
精度	±10%
模擬輸出	1mV/μmol. m-2.s-1
通訊端口	RS232，9針D型接口
防護等級	IP65
工作溫度	0~60℃
尺寸	1300×100×130毫米
重量	1.7公斤
供電	4節AA堿性電池，可以使用1年
掌上數據管理器
顯示屏	1/4 VGA防日光顯示屏
操作系統	Windows Moble 6
顯示選項	葉面積指數（LAI）、平均光合有效輻射、所有單個傳感器的讀數
防護等級	IP67
工作溫度	-30~+60℃
跌落高度	1.2米
供電	可充電電池，可連續使用12小時
內存	>100MB可用
尺寸規格	165×95×45毫米
重量	450克

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