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Sievers 薄膜電導率檢測技術用于檢測總有機碳（TOC）含量，并被證明為十分可靠的檢測方法。不同于非分散紅外檢測（NDIR—non-dispersive infrared）技術，電導率檢測法數值相對穩定，也不會隨著時間的變化有明顯的漂移。因此使用薄膜電導率檢測技術，設備無需經常校準，所得到的檢測結果也十分穩定。
Sievers薄膜電導率檢測技術使用了選擇性氣體滲透薄膜，只有氧化產生的CO2能通過這層薄膜進入檢測艙。從而防止酸、堿和含鹵素等雜原子化合物的干擾，因此相比直接電導率法，Sievers薄膜電導率檢測法減少了檢測中的“假正“現象，提供了無比優異的選擇性、靈敏度、穩定性、度和準確度。
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