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【儀器網 使用手冊】偏振儀是用于物體熒光強度及偏振、吸收光和化學發光的光學檢測儀器，也可用來探測物質薄膜厚度、光學常數以及材料微結構等物理特性。測試過程中可以不與樣品接觸，所以對樣品沒有破壞且不需要真空，可以測量包括半導體、有機物及各類金屬等物質，涉及范圍涵蓋半導體、通訊、數據存儲、科研和生物醫藥等多個領域。
偏振儀可以高精度測試和分析激光在器件中的偏振相關性能，如偏振態、偏振度、消光比等。主要應用在通過監測激光在器件中的偏振狀態來鑒定偏振敏感性設備的性能，也可以應用在偏振模色散測試中的偏振分析上。
一、偏振儀結構原理：
由上下偏光片和光源組成，還配有玻璃載物臺、干涉球和凸透鏡。
光源一般采用普通白熾燈，有時在光源箱前側開一個小窗口，可以為折射儀提供光源。偏光鏡在設計時通常采用下偏光片固定，上偏光片可以轉動，從而調整偏光方向。
當自然光通過下偏光片時產生偏光，若上下偏光方向平行，來自下偏光片的偏振光全部通過，視域亮度大；若上下偏光方向垂直，來自下偏光片的偏振光全部被阻擋，此時視域暗并產生消光。
二、偏振儀使用方法：
1.清潔樣品，觀察測試樣品是否透明。
2.打開偏光鏡電源開關，旋轉上偏光片直至消光位置。
3.將被測物體放在下偏光片上方的載物臺上，在水平方向上轉動360°，觀察其明暗變化。
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