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【儀器網 行業應用】X熒光光譜儀根據各元素的特征X射線的強度，可測定元素含量。儀器由激發源和探測系統構成，X射線管產生入射X射線，激發被測樣品，產生X熒光，探測器對X熒光進行檢測，具有分析速度快、測量范圍寬、干擾小的特點，被廣泛用于元素分析和化學分析，特別是在金屬、玻璃、陶瓷和建材的調查和研究等方面。
儀器特點：
1、分析速度快。測定用時較短，10～300秒就可以測完樣品中的全部待測元素。
2、X射線熒光光譜跟樣品的化學結合狀態無關，而且跟固體、粉末、液體及晶質、非晶質等物質的狀態也基本上沒有關系，但在高分辨率的精密測定中卻可看到有波長變化等現象。特別是在超軟X射線范圍內，這種效應更為顯著。
3、非破壞性分析，在測定中不會引起化學狀態的改變，也不會出現試樣飛散的現象。同一試樣可反復多次測量，結果重現性好。
4、X射線熒光分析是一種物理分析方法，所以對在化學性質上同一族的元素也能進行分析。
5、分析精密度高，含量測定已經達到ppm級別。
6、制樣簡單，固體、粉末、液體樣品等都可以進行分析。
主要用途：
近年來，X熒光光譜分析在各行業應用范圍不斷拓展，已成為一種廣泛應用于冶金、地質、有色、建材、商檢、環保、衛生等領域，特別是在RoHS檢測領域應用廣泛的儀器。大多數分析元素均可用其進行分析，可分析固體、粉末、熔珠、液體等樣品，分析范圍為Be到U。
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