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等離子體-材料表面

飛行時間二次離子質(zhì)譜儀

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飛行時間二次離子質(zhì)譜儀參考價：面議
Hiden TOF-qSIMS 飛行時間二次離子質(zhì)譜儀工作站設計用于多種材料的表面分析和深度剖析應用，包括聚合物，藥物，超導體，半導體，合金，光學和功能涂層以及...
型號： TOF-qSIMS 廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商所在地：北京市對比

等離子體-材料表面離子質(zhì)譜儀廠家供應離子質(zhì)譜儀

2021/12/29 18:13:24723

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