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簡介：FI-RXMo100便攜式傅里葉變換紅外光譜儀專門應用于突發性事故現場、爆炸事件、化學事故現場、衛生醫療、地震、火災、實驗室未知物質科學研究等重大污染事故和不好的環境中，是一種對各種未知化學物質進...

簡介：FI-RXM-S是公司經過多年的探索與實踐發布的一款全波段的高性能傅里葉變換近紅外產品。該產品采用積分球漫反射系統，很好的解決了固體樣品漫反射測定時光譜勻化問題，適用于各類固體產品如飼料類、乳制品...

簡介：真空型傅里葉變換紅外光譜儀FI-RXF300V，是全新推出的一款研究級紅外光譜儀。與傳統的紅外光譜儀不同，真空紅外，顧名思義，就是采取全真空光學設計，所有紅外光路及樣品均處于真空環境中，測試過程無...

簡介：FI-RXF200是新推出的一款研究型傅里葉變換紅外光譜儀，能更好地滿足科研用戶不同的需求。FI-RXF200擁有優于0.25cm-1光譜分辨率、光譜范圍可擴展到12800-350cm-1，可選擇...

簡介：FI-RXF100可更換各種通用采樣模塊，卡扣式鎖緊裝置，確保了光路的嚴格重復性及可靠性，用戶可輕松進行ATR、透射、反射及其他測量模式，是實驗室和現場測試環境的必選儀器。

簡介：FI-RXF100-R傅里葉變換紅外光譜儀額外配置了外置式可調節的高精度光圈，用戶可以根據樣品的特性（如厚度、顏色等）隨時調節光圈大小，而無需在軟件中進行選擇，這樣的設計配合不同檔位的增益功能，可...

簡介：FI-RXF100-R-T雙通道、雙樣品腔傅里葉紅外光譜儀，是順應市場需要推出的一款國產化研究型紅外光譜分析系統，緊湊輕盈、靈活高效，可以滿足透射、ATR測量、漫反射、鏡反射等多種測量模式的任意組...

簡介：半導體晶圓拉曼光譜測試系統具有自動對焦和實時表面跟蹤功能，無需樣品標記，可進行無損非接觸式測量，空間分辨率＜1μm。系統可以對第三代半導體進行組分、應力、載流子濃度、結晶度和缺陷進行檢測，廣泛地應...

簡介：半導體晶圓PL光譜測試系統針對第三代半導體，如GaN、InGaN、AlGaN等，進行溫度相關光譜和熒光壽命測試。同時可測量外延片的膜厚、反射率及相應的Mapping圖。

簡介：SGM1700型號近紅外光纖光譜儀是一部光譜范圍覆蓋900-1700nm波段的小型光譜儀，擁有-10℃的制冷型探測器，良好的熱穩定性表現。可以供科研端和工業端用戶使用。應用領域廣泛，包括測量液體的...