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簡(jiǎn)介:掃描電子顯微鏡(SEM)。與光學(xué)顯微鏡相比電子顯微鏡用電子束代替了可見光,用電磁透鏡代替了光學(xué)透鏡并使用熒光屏將肉眼不可見電子束成像。
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