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1.快速定量測量透明材料和薄膜2維平面內的
2.相位差、雙折射和內部應力應變分布
3.超寬范圍雙折射測試儀
日本Photonic-lattice公司成立于1996年，以日本東北大學的光子晶體的研究技術為核心，成立的合資公司，尤其是其光子晶體制造技術世界，并由此開發出的測量儀器。
主要產品分四部分：
n 光子晶體光學元件；
雙折射和相位差評價系統；
膜厚測試儀；
偏振成像相機。
『相位差』『雙折射』『內部應力』測量裝置 WPA/PA系列
快速定量測量透明材料和薄膜2維平面內的
相位差、雙折射和內部應力應變分布
PA/WPA系統特點：
操作簡單/快速測定：*的偏振成像傳感器進行簡單的和快速的操作即可測量相位差的分布
2D數據的多方面分析功能：二維數據的強大分析功能，能夠直觀解釋被測樣品的特性。
大相位差測試能力（WPA系列）：通過對三組不同波長的測量數據進行計算，WPA系統可以測量出幾千nm范圍內的相位差。
主要應用
· 光學零件（鏡片、）
· 智能手機玻璃基板
· 有機材料（透明晶圓）
參數指標
型號 | PA-200 | PA-200-L |
測量范圍 | 0~ 130nm | |
重復性 | <1.0nm | |
像素數 | 1120×868（≒100萬）pixels | |
測量波長 | 520nm, | |
尺寸 | 270×340×560 mm | 430×490×910 mm |
觀測到的大面積 | 27×36 mm ～ 99×132mm | 36×48 mm ～ 240×320mm |
重量 | 12kg | 22kg |
數據接口 | GigE（攝像機信號） RS232C（電機控制） | |
電壓電流 | AC100-240V（50/60Hz） | |
軟件 | WPA-View | |
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