NORAN System 7 第七代 X 射線能譜儀能夠使分析人員在zui短時間內獲得可靠的分析結果。僅需按下按鈕，打印報告。所有過程自動完成。

NORAN System 7 第七代 X 射線能譜儀

NORAN System 7 第七代 X 射線能譜儀能夠使分析人員在zui短時間內獲得可靠的分析結果。僅需按下按鈕，打印報告。所有過程自動完成。
NORAN System 7 為現代電子顯微鏡實驗室提供zui高的微區分析能力：可提供zui高靈敏度的 X 射線探測器、zui高通量的脈沖處理器和數字成像技術以及的軟件包。擁用這些功能的NORAN System 7 能譜儀在短短數秒內即可產生準確的分析結果。
 

能譜分析

• 利用基于規則的識別和峰形去卷積方法，快速準確識別元素峰
• SpectraCheck 技術可利用譜圖模擬和比較規則—提供重疊譜峰和表示擬和優度的卡方值，通過目測和統計方式確認元素的存在
• 元素峰參考提供通過典型 EDS 系統采集得到的完整能譜峰形集
• 這些峰形的強度會自動校正以匹配顯微鏡檢測器—無需定期根據標準來校正系統
• 采用 PROZA Phi-Rho-Z 基體校正算法

“一鍵式”模式

• 集成電子成像和 X 射線分析
• 只需單擊鼠標即可對所選感興趣區域進行元素識別和定量分析
• 利用點、矩形、圓、多邊形或使用魔術棒工具確定樣品區域
• 利用魔術棒工具可輕松選取復雜區域，無需手動繪制邊框
• 只需點擊一次即可基于灰度值自動作出選擇
• 瞬時分析所選區域或選擇多區域進行同時分析
• 根據所選設置進行處理
• 能夠提供所需能譜結果--具有完整標準的定性分析到定量分析

全譜元素圖像

• 采集每一點處的能譜圖--對成像、X 射線面分布、線掃描和高級自動化分析非常有用
• NORAN System 7 能夠采集可進行重復分析的數據，無需重新采集或更改采集參數--只需點擊一次即可
• 在顯微鏡本地分析采集數據，或將數據離線復制至另一臺計算機制作報告

自動提取分析軟件

• 允許實驗室中的所有人員執行相同的分析并獲得*的結果
• 采用功能強大的多變量統計算法，由 Paul Kotula 等人創建并由 Sandia國家實驗室*
• 采用高級算法，在數據仍被采集時Direct-to-Phase軟件能夠提取并顯示已知相
• 允許 EDS 系統決定合適采集到足夠的統計數據，或可視化正在建立的數據

Direct-to-Phase軟件

• 同時進行數據分析和數據采集 - 實時相分析速度
• 不僅在分布圖和譜圖中顯示元素數據，還能生成信息豐富的樣品組成圖--生成完整數據的速度比當前X 射線微區分析技術快10倍