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BS53-SPA-400 多功能掃描探針顯微鏡

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公司名稱 北京中世遠達商貿有限公司
品牌
型號 BS53-SPA-400
所在地 北京市
廠商性質 經銷商
更新時間 2016/1/2 17:00:00
訪問次數 938

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特價說明：

促銷詳細：

2020年01月08日至 2020年02月08日

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模內澆口分離自動化，降低對人的依賴度；傳統的塑膠模具開模后產品與澆口相連，需二道工序進行人工剪切分離，模內熱切模具將澆口分離提前至開模前，消除后續工序，有利于生產自動化，降低對人的依賴。

產品簡介

我也要發布產品信息

可在大氣、液體及電化學條件下對樣品微區（微米至納米量級）進行形貌及其物理特性的觀測分析。

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多功能掃描探針顯微鏡 型號:BS53-SPA-400

貨號:

主要用途：
可在大氣、液體及電化學條件下對樣品微區（微米至納米量級）進行形貌及其物理特性的觀測分析。

主要特點介紹：
1、多功能測量：能實現高分辨的形貌測量，除用于測量各種物質的表面形貌外，能測量多種材料如無機物非金屬材料、金屬材料、高分子材料、復合材料和生物材料的多種物性，包括磁力、摩擦力、粘彈性、表面電位勢、靜電力、壓電響應、電流像、電流隧道譜、電容等等。
2、液體及電化學環境測量：實現液體環境下進行接觸式和輕敲式AFM測量以及電化學環境中進行AFM及STM測量。
3、*的功能（詳細功能介紹請參見下述功能模式介紹）：

4、精密的設計：系統包含防震和隔音設備，滿足一般條件下進行各種高分辨的測量；并可與多種設備聯用，如納米力學系統、鐵電分析儀等。

測試功能：
*DFM （動態力模式，包括非接觸式和間歇接觸式原子力模式）
*Phase Mode（相位模式）
*FFM （摩擦力模式）
*MFM （磁力模式）
*Vector Scan（矢量掃描，納米刻蝕）
*Raster Lithography（納米加工）
*Force vs Distance Curve （力曲線測量模式）
Physical Property Measurement（物理特性測量可選單元）:
*VE-AFM/VE-DFM （微區粘彈性測量模式）
*LM-FFM （切向調制摩擦力測量模式）
*Adhesion Mode （微區粘性測量模式）
*KFM for Surface Potential Microscope （表面電位勢測量模式KFM）
*EFM （靜電力測量）
*Piezo-Response Force Microscopy（壓電響應力模式）
*SNDM（掃描非線性介電顯微鏡，即掃描電容模式）
Electrical Measurement（電特性測量可選單元）:
*STM（掃描隧道測量模式）
*AFM with Current measurement Mode （AFM同時電流測量模式）
*AFM-CITS （AFM電流隧道譜）
Meas urement in Liquid and EC-SPM（液體及電化學測量可選單元）:
*Contact AFM in Liquid（液體中接觸式AFM測量）
*DFM in Liquid（液體中DFM測量）
*Electro Chemical AFM/STM（電化學AFM/STM）