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C640 機械接觸式薄膜片測厚儀

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機械接觸式薄膜片測厚儀采用機械接觸式測量方式,嚴格符合標準要求,有效保證了測試的規范性和準確性。專業適用于量程范圍內的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測量

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機械接觸式薄膜片測厚儀采用機械接觸式測量方式,嚴格符合標準要求,有效保證了測試的規范性和準確性。專業適用于量程范圍內的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測量

關鍵詞:測厚儀,薄膜厚度儀,薄膜測厚儀,紙張厚度測定儀,厚度測量儀,厚度計,薄膜厚度測量儀,薄膜厚度檢測儀,薄膜厚度測定儀,薄片測厚儀,硅片測厚儀,GB 6672,紙張測厚儀

機械接觸式薄膜片測厚儀測試原理:
將預先處理好的薄型試樣的一面置于下測量面上,與下測量面平行且中心對齊的上測量面,以一定的壓力,落到薄型試樣的另一面上,同測量頭一體的傳感器自動檢測出上下測量面之間的距離,即為薄型試樣的厚度。

參照標準:
ISO 4593、ISO 534、ASTM D6988、ASTM F2251、GB/T 6672、GB/T 451.3、TAPPI T411、BS 2782-6、DIN 53370、ISO 3034、ISO 9073-2、ISO 12625-3、ISO 5084、ASTM D374、ASTM D1777、ASTM D3652、GB/T 6547、GB/T 24218.2、FEFCO No 3、EN 1942、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702
中國《藥品生產質量管理規范》(GMP)對軟件的有關要求(可選配置)

技術參數:
C640M
測試范圍(標配)        0~2mm
分辨率                  0.1μm
重復性                  0.8μm
測量范圍(選配1)       0~6mm
測量范圍(選配2)       0~12mm
測量間距                0~1000(可設定)mm
進樣速度                1.5~80(可設定)mm/s
測量方式機械接觸式
測量壓力及接觸面積薄膜:17.5±1 kPa、50 mm2
紙張:100±1 kPa(標準配置) / 50±1 kPa(可選配置)、200 mm2
C640H
測試范圍(標配)        0~2mm
分辨率                  0.1μm
重復性                  0.4μm
測量范圍(選配1)       0~6mm
測量范圍(選配2)       0~12mm
測量間距                0~1000(可設定)mm
進樣速度                1.5~80(可設定)mm/s
測量方式機械接觸式
測量壓力及接觸面積薄膜:17.5±1 kPa、50 mm2
紙張:100±1 kPa(標準配置) / 50±1 kPa(可選配置)、200 mm2
外形尺寸:370mm(L)×350mm(W)×410mm(H)
凈重:26kg

濟南蘭光機電技術有限公司(簡稱Labthink蘭光)是一家致力于幫助客戶獲得成功、員工獲得發展、品牌獲得尊敬的跨國科技公司。20余年專注于檢測技術、儀器研發、測試服務和實驗室建設四大領域,從以濟南為核心的中國檢測成長為立足美國進軍的跨國科技企業,為醫藥、食品、印刷、包裝、汽車、電子、生物、建筑、新能源、石油化工等領域超過3萬家客戶提供了全面、專業的產品質量控制解決方案。


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