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X-MET8000 手持式 X 射線熒光 (XRF) 光譜儀

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X-MET8000是一款手持式 X 射線熒光 (XRF) 光譜儀,為安全攸關(guān)的應(yīng)用場合帶來出色的現(xiàn)場合金分析。該分析儀具備輕便性,采用了符合人體工學(xué)的設(shè)計(jì),因此操作舒適,適合日常使用。其優(yōu)化的機(jī)頭設(shè)計(jì)可輕松測試彎曲或拐角內(nèi)部的材料。得益于我們*的 HERO™(耐熱)窗口,您可準(zhǔn)確分析溫度高達(dá) 400º 的合金。

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X-MET8000手持式X熒光光譜儀
X-MET8000手持式X熒光光譜儀介紹:
X-MET8000是一款手持式 X 射線熒光 (XRF) 光譜儀,為安全攸關(guān)的應(yīng)用場合帶來出色的現(xiàn)場合金分析。該分析儀具備輕便性,采用了符合人體工學(xué)的設(shè)計(jì),因此操作舒適,適合日常使用。其優(yōu)化的機(jī)頭設(shè)計(jì)可輕松測試彎曲或拐角內(nèi)部的材料。得益于我們*的 HERO™(耐熱)窗口,您可準(zhǔn)確分析溫度高達(dá) 400º 的合金。借助 X-MET8000,您可大限度減少實(shí)驗(yàn)室檢測工作,并降低成本,同時確保安全性和合規(guī)性。
X-MET8000手持式X熒光光譜儀特點(diǎn):
?分析結(jié)果值得您信任
X-MET8000 *結(jié)合了通用的基本參數(shù) (FP) 方法和經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法(可溯源的標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)),可提供超高的分析精密度和準(zhǔn)確度。
?性能優(yōu)異
該分析提供的出色輕元素(Mg 至 S)分析可對組件及系統(tǒng)進(jìn)行嚴(yán)格控制。檢測限制低,可準(zhǔn)確分析微量元素/殘存元素以及識別牌號。
?易于操作
直觀的圖標(biāo)驅(qū)動式用戶顯示意味著操作員幾乎不需任何培訓(xùn)。大屏幕方便操作員閱讀,且可在穿戴手套的情況下操作。無需使用任何工具便可更換已損壞或玷污的可快速更換防護(hù)窗口。
?穩(wěn)健
X-MET8000 具備 IP54 防護(hù)等級(相當(dāng)于 NEMA3),有著超高的防塵和防水性能。該分析儀符合MIL-STD-810G 強(qiáng)度標(biāo)準(zhǔn)。
?可選準(zhǔn)直器
可選的小點(diǎn)準(zhǔn)直器(3 毫米直徑),用于更加準(zhǔn)確地分析特點(diǎn)區(qū)域(如焊料),不受周邊材料干擾。
?結(jié)構(gòu)旨在經(jīng)久耐用
X-MET8000 具有耐沖擊外殼,且在顯示屏、儀器頭部及電池周圍均采用環(huán)保密封和減震橡膠,可有效防止受到撞擊。采用大面積散熱器,即便在高溫環(huán)境下也能提供理想的可靠性和穩(wěn)定性。防護(hù)窗口(Expert 及 Optimum 型號的選購件)和高強(qiáng)度厚 Kapton®窗口(Smart 型號)可防止探頭和X射線管在測試小部件與尖銳物品時受損。
?強(qiáng)大的數(shù)據(jù)管理功能
可存儲多達(dá)十萬個檢測結(jié)果,包括光譜譜圖和樣品圖像(若配備相機(jī))結(jié)果和報(bào)告可直接下載到 U 盤,或通過 USB 數(shù)據(jù)線傳到 PC上,也可利用 WiFi 或藍(lán)牙實(shí)現(xiàn)網(wǎng)絡(luò)共享;可保存成 CSV 格式或防篡改的 PDF 格式,以確保數(shù)據(jù)完整性。使用 X-MET 報(bào)告生成器創(chuàng)建自己的報(bào)告(無需安裝任何軟件)。此類報(bào)告可以包括公司徽標(biāo)、樣品圖像、分析結(jié)果、光譜圖和額外的樣品信息。借助我們的應(yīng)用,您可以與供應(yīng)商、客戶或同事實(shí)時分享分析結(jié)果。全面的、可自定義的牌號庫
?X-MET8000 內(nèi)含有較全面的牌號庫:預(yù)安裝的、用戶可選的AISI、DIN、JIS 和 GB 牌號庫覆蓋超過 1600 種合金。用戶可對現(xiàn)有牌號庫進(jìn)行修改,添加新牌號(例如某個廠商或者產(chǎn)地特定牌號),或者創(chuàng)建自己的牌號庫(例如特定的焊接材料牌號庫)。
預(yù)裝牌號庫包括:鎳合金、不銹鋼、銅合金、鋁合金、鈷合金、低合金鋼、工具鋼、鈦合金、鋯合金、等...

?便攜式藍(lán)牙打印機(jī):
將結(jié)果打印在紙上或不干膠標(biāo)簽上,然后將其粘貼至被測件上,既方便又可自由組合。
?保護(hù)套與皮帶:用于現(xiàn)場免提運(yùn)送分析儀。
?臺式支架:
數(shù)秒內(nèi)將 X-MET8000 變身成臺式分析儀。測量不規(guī)則形狀物品時提高生產(chǎn)力以及增強(qiáng)操作安全性。大樣品艙可測量各種形狀和尺寸的樣品。
?輕質(zhì)支架與安全罩:
用于分析小樣品(如螺釘、緊固件);可放進(jìn)X-MET手提箱便于攜帶。
?輕便防輻射罩:當(dāng)分析輕元素(如鋁合金)時,防止輻射泄露。
?藍(lán)牙條形碼掃描儀:
可防止使用 X-MET 用戶界面時,樣品標(biāo)簽和其他信息輸入錯誤。只需掃描樣品條形碼,即可在 X-MET 屏幕上的所選字段中填入信息。

?Vulcan: 可在 1 秒內(nèi)識別合金,且不使用 X 射線。
?移動式和便攜式 OES: 高效能的合金元素、微量元素分析;以及雙相鋼中的氮含量分析。

 

X-MET8000

X-MET8000

X-MET8000

 

Smart

Optimum

Expert

說明

對常用合金進(jìn)行常規(guī)鑒別和分析的明智選擇

經(jīng)過優(yōu)化,可快速分揀及分析合金,從鋁到銅、再到不銹鋼等

旗艦產(chǎn)品,性能優(yōu)異,可精確分析輕元素 (Mg、Al、Si、P、S)、雜質(zhì)元素及痕量元素

X 光管

40 千伏

40 千伏或 50 千伏(取決于具體的應(yīng)用)

 50 千伏

X 光管過濾器

單個過濾器

6 位過濾器,適用于從 Mg 至 U 的所有元素的優(yōu)化分析

6 位過濾器,適用于從 Mg 至 U 的所有元素的優(yōu)化分析

探測器

大面積硅漂移探測器

大面積硅漂移探測器

大面積硅漂移探測器

元素范圍

K – U

Mg – U

 

大樣品溫度

400oC

100oC
400oC,帶 HERO™ (耐熱)窗口(選購件)

100oC
400oC,帶 HERO™ (耐熱)窗口(選購件)

IP54 等級

重量

1.5kg

1.5kg

1.5kg

電池續(xù)航能力

10-12小時

10-12小時

10-12小時

保護(hù)探測器窗口不受損壞

厚Kapton窗口

可選窗口保護(hù)

可選窗口保護(hù)

校準(zhǔn)

無標(biāo)樣FP法

無標(biāo)樣FP法(含輕元素分析)

無標(biāo)樣FP法 + 自動選擇經(jīng)驗(yàn)校
準(zhǔn) (可溯源的標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)),
可提供高精度及高準(zhǔn)確度


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