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PF TEM原位加熱與電學芯片系統

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PF TEM原位加熱與電學芯片系統一桿多用:僅僅通過更換芯片,即可實現原位加熱、原位電學、原位液體和原位氣體研究,極為有效的幫助科研人員提高科研水平,*的拓展透射電鏡TEM應用范圍。

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  • PF TEM原位加熱與電學芯片系統一桿多用:僅僅通過更換芯片,即可實現原位加熱、原位電學、原位液體和原位氣體研究,極為有效的幫助科研人員提高科研水平,*的拓展透射電鏡TEM應用范圍。

     

  • 由科學家精心研發制造,性能*,質量可靠。

 

 

 

透射電子顯微鏡是*的提供在較高時間分辨率下得到原子級空間分辨率的實驗手段。透射電子顯微鏡加熱與電學芯片系統是在標準外形的透射電鏡樣品桿內安裝MEMS工藝制成的微加熱芯片和電學測量芯片。微加熱芯片可對樣品進行可控溫度的加熱,電學測量芯片可對樣品進行電性質測量。并可在進行加熱和電學測量的同時,動態、高分辨地對樣品的晶體結構、化學組分、元素價態進行綜合表征,*拓展了透射電鏡的功能和應用范圍。

 

PF TEM原位加熱與電學芯片系統硬件包含兩部分:加熱和電學測量控制器及原位芯片樣品桿。軟件系統包括自動控溫軟件和自動電學測量軟件。

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 


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