X射線熒光鍍層厚度測試儀 iEDX-150μWT，1.鍍層檢測，多鍍層檢測可達5層，精度及穩定性高（見以下產品特征詳述）。2.多導毛細管配置，光斑尺寸50um3.平臺尺寸：620*525mm，樣品移動距離可達250*250mm。4.激光定位。5.可檢測軟硬板電鍍層厚度。6.運行及維護成本低、無易損易耗品，對使用環境相對要求低。7.可進行未知標樣掃描、無標樣定性，半定量分析。

產品概述

產品類型：能量色散X熒光光譜分析設備 

產品名稱：X射線熒光鍍層厚度測試儀

型    號：iEDX-150μWT

生 產 商：韓國ISP公司

亞太地區戰略合作伙伴：廣州鴻熙電子科技有限公司

 X射線熒光鍍層厚度測試儀   iEDX-150μWT

產品優勢及特征

（一）產品優勢

1. 鍍層檢測，多鍍層檢測可達5層，精度及穩定性高（見以下產品特征詳述）。

2. 多導毛細管配置，光斑尺寸50um

3. 平臺尺寸：620*525mm，樣品移動距離可達250*250mm。

4. 激光定位。

• 可檢測軟硬板電鍍層厚度。
• 運行及維護成本低、無易損易耗品，對使用環境相對要求低。
• 可進行未知標樣掃描、無標樣定性，半定量分析。
• 操作簡單、易學易懂、精準無損、高品質、高性能、高穩定性，快速出檢測結果。
• 可針對客戶個性化要求量身定做輔助分析配置硬件。
• 軟件*升級。
• 無損檢測，一次性購買標樣可重復使用。
• 使用安心無憂，售后服務響應時間24H以內，提供*保姆式服務。
• 可以遠程操作，解決客戶使用中的后顧之憂。

（二）產品特征

• 高性能高精度X熒光光譜儀（XRF）
• 計算機 / MCA(多通道分析儀)

2048通道逐次近似計算法ADC（模擬數字轉換器）。

• Multi Ray. 運用基本參數（FP）軟件，通過簡單的三步進行無標樣標定，使用基礎參數計算方法，對樣品進行精確的鍍層厚度分析。
• MTFFP (多層薄膜基本參數法) 模塊進行鍍層厚度分析

多鍍層厚度同時測量

 4.1 單性金屬鍍層厚度測量。

 4.2 合金鍍層厚度測量。

 4.3 雙鍍層厚度測量。

 4.4 雙鍍層（其中一層是合金）厚度測量。

 4.5 三鍍層厚度測量。

 4.6 測量點大?。?0um。

 4.7 測試精度及穩定性

     電鎳金，化鎳金：

     當Au≥0.05um，Ni(NiP)≥3um時，測量時間60S，

     準確度：Au≤±3% ，Ni≤±3%             

     精確度：Au≤3% ，Ni≤2%;       

     化鎳鈀金：

     測量標準片Au/Pd/Ni/Base 0.05/0.09/3um，測量時間60S，

     準確度：Au≤±3% ，Pd≤±5% ，Ni≤±3%，

     精確度：Au≤3% ，Pd≤5% ，Ni≤3%        

   注：準確度公式：準確度百分比=（測試10次的平均值-真值）/真值**）；                         

    精確度COV公式：（標準偏差S/10次平均值）**

• Multi-Ray, WINDOWS7軟件操作系統
• 完整的統計函數均值、 標準差、 低/高讀數，趨勢線，Cp 和 Cpk 因素等
• 自動移動平臺，包括自動對焦功能、方便加載函數、瞄準樣品和拍攝、激光定位和自動多點測量功能。

產品配置及技術指標說明

鍍層厚度測試儀  iEDX-150μWT

1. X射線管：高穩定性X光光管，使用壽命（工作時間>18,000小時）

微焦點X射線管、Mo (鉬) 靶

鈹窗口， 陽極焦斑尺寸75um，油絕緣，氣冷式，輻射安全電子管屏蔽。

50kV，1mA。高壓和電流設定為應用程序提供zuijia性能。

• 探測器：SDD 探測器

能量分辨率：125±5eV

• 濾光片：無
• 平臺：軟件程序控制步進式電機驅動X-Y軸移動大樣品平臺。
  激光定位、簡易荷載大負載量為5公斤
  軟件控制程序進行持續性自動測量
• 樣品定位：顯示屏上顯示樣品鎖定、簡易荷載、激光定位及拍照功能

6. 分析譜線：

- 2048通道逐次近似計算法ADC（模擬數字轉換）

- 基點改正（基線本底校正）

- 密度校正

- Multi-Ray軟件包含元素ROI及測量讀數自動顯示

7．視頻系統：高分辨率CCD攝像頭、彩色視頻系統

- 大放大倍數：720X

- 照明方法：上照式

- 軟件控制取得高真圖像

8. 計算機、打印機（贈送）

• 含計算機、顯示器、打印機、鍵盤、鼠標
• 含Win 7/Win 10系統。
• Multi-Ray鍍層分析軟件

注：設備需要配備穩壓器，需另計。