美國XOS HD-Prime 臺式X射線熒光光譜儀用XOS高清晰光譜技術，測量玩具和兒童用品中的鉛以及其他有毒元素，可測量出微量成份。HD Prime分析儀采用光學分析技術，可分別測出產品基材和涂層中有毒元素的成份。這種分析技術可測量目前和將來由CPSIA規定的含量。HD Prime分析儀有用戶滿意的界面，既能快速定性檢測，又能定量分析。性能價格比高。

1. XOS 公司介紹：

◆ XOS® (X-Ray Optical Systems, Inc. X射線光學系統公司) 總部位于美國紐約州*Albany, 為丹納赫水質平臺子公司。

◆ XOS®是一家應用材料和元素分析設備供應商，為重視控制材料質量與性能的行業監管部門和客戶提供擁有技術的分析設備。

◆ XOS公司擁有的研發和設計能力，與美國的眾多研究機構有合作關系，曾經參與了許多課題設計，包括美國宇航局的行星元素探測計劃（XRF方法）等。

◆ XOS擁有X射線光學技術，能夠幫助客戶將測量靈敏性提高百倍，減少測量時間，提高空間分辨率，縮小設備尺寸，并且節約設備成本。

◆ XOS公司的光學晶體應用于大型波長色散型XRF、微區聚焦XRF、掃描電鏡等X射線儀器。XOS公司與其他著名的XRF生產廠商都有合作，提供給它們光學聚焦晶體。

◆ XOS公司具備HDXRF的技術——DCC，也是目前一家擁有自己技術的XRF生產廠商，其他品牌XRF的核心部件——X光管、濾光片、準直器等均為外購。

◆ XOS公司在元素分析領域有著技術應用，XOS公司與美國NASA下屬的JPL實驗室合作，研發了一款用于2020火星計劃的XRF元素分析儀

2. 主要技術參數和優點：

1) 采用DCC®（雙曲面彎晶技術），取代傳統的濾光片和準直器，真正實現單色光激發樣品；

2) 檢測光斑1mm，適合測試不規則樣品和細小樣品；

3) 采用SDD硅漂移探測器，分辨率高，無需液氮冷卻；

4) 滿足美國ASTM F2853標準；

5) 可同時測試涂層與基材中的重金屬含量；

6) 采用基本參數法，可分析各類未知樣品；等等

美國XOS HD-Prime 臺式X射線熒光光譜儀

用于玩具和兒童用品

HD Prime用XOS*的高清晰光譜技術，測量玩具和兒童用品中的鉛以及其他有毒元素，可測量出微量成份。HD Prime分析儀采用光學分析技術，可分別測出產品基材和涂層中有毒元素的成份。這種分析技術可測量目前和將來由CPSIA規定的含量。HD Prime分析儀有用戶滿意的界面，既能快速定性檢測，又能定量分析。性能價格比高。測量是非破壞性的，不需要費錢耗時的樣品準備，而且不會損壞被測商品，已備復查。高清晰光譜儀使負責產品安全的行業和政府管理部門能夠快速、方便地檢測產品。

檢測鉛和其它有毒元素

應用領域

•玩具和兒童用品中多種有毒元素測量，符合CPSIA規定的要求

•快速定性定量分析有毒元素

•使用場合:工廠的生長線上和實驗室、第三方檢測實驗室、零售商、檢測部門

•符合ASTM F2853和F2617標準

性能和特點

•測定有毒元素（Pb，Sb，As，Ba，Cd，Cr，Hg，Se，Br，and CI)

•HD Prime 可分別測出產品基材和涂層中有毒元素的成份

•1mm小面積分析，能檢測不規則形狀

•使用方便，可供工廠、實驗室使用，2小時培訓

•不需要樣品準備：無須剝離和浸煮涂層，從而不破壞產品結構

•定性檢測模式：提供有毒元素快速檢測

•定量檢測模式：確定涂層和基底材料中元素成份