XDLM XDLM-XYM 鍍層厚度測量儀
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- 公司名稱 深圳金東霖科技有限公司
- 品牌
- 型號 XDLMXDLM-XYM
- 所在地 深圳市
- 廠商性質 代理商
- 更新時間 2015/12/24 12:00:00
- 訪問次數 448
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金東霖科技有限公司引進的占有率80%的德國FISCHER X熒光鍍層厚度測量儀,擁有X熒光鍍層測量六十多年的經驗,其專業的技術,*的設計,是鍍層分析領域的客戶*。
菲希爾鍍層厚度測量儀,在技術上一直以來都于*的測厚行業, 能夠測量包含原子序號17至92的典型元素的電鍍層、鍍層、表膜和液體,極薄的浸液鍍層(銀、金、鈀、錫等)和其它薄鍍層。
A:區別材料并定性或定量測量合金材料的成份百分含量可同時測定zui多4層及24種元素。
B :精確度于世界
C :數據統計報告功能允許用戶自定義多媒體分析報告格式,以滿足您特定的分析報告格式要求,如在分析報告中插入數據圖表、測定位置的圖象、CAD文件等。
D :統計功能提供數據平均值、誤差分析、zui大值、zui小值、數據變動范圍、相對偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK圖、直方圖、X-bar/R圖等多種數據分析模式。能夠測量多種幾何形狀各種尺寸的樣品;
E :可測量任一測量點
鍍層厚度測量儀樣品臺選擇:
采用開槽式樣品室,以方便對大面積線路板樣品的測量。它可提供五種規格的樣品臺供用戶選用,分別為:
一:手動樣品臺
1 標準樣品臺:XY軸手動控制、Z軸自動控制。
2 擴展型標準樣品臺:XY軸手動控制、Z軸自動控制。
3 可調高度型標準樣品臺:XY軸手動控制、Z軸自動控制。
二:自動樣品臺
1 程控樣品臺:XYZ軸自動控制。
2 超寬程控樣品臺:XYZ軸自動控制。
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