| 參考價 | ￥ 9000 |
| 訂貨量 | ≥1 件 |
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美國OEwaves公司的HI-Q光學測試測量系統提供了*自動化地測量連續激光器或激光光源的超低相位噪聲測量。這個光學測試測量系統能夠快速地測量激光相位噪聲，評估其線寬的半高寬度低至< 3 Hz,而無需復雜的測試架構和參考激光即可作這樣的窄線寬測量。
該系統在寬帶測量方面是它不要求另外的低噪聲參考激光光源。該系統操作簡單、方便、快速、精度高，且無需附加額外的測試設備。
美國OEwaves公司的HI-Q光學測試測量系統提供了*自動化地測量連續激光器或激光光源的超低相位噪聲測量。這個光學測試測量系統能夠快速地測量激光相位噪聲，評估其線寬的半高寬度低至< 3 Hz,而無需復雜的測試架構和參考激光即可作這樣的窄線寬測量。
該系統在寬帶測量方面是不要求另外的低噪聲參考激光光源。該系統操作簡單、方便、快速、精度高，且無需附加額外的測試設備。這的超低相位/頻率噪聲分析儀可擴展到不同的輸入波段，并用于低相對強度噪聲測量。
特點：
? 超低相位/頻率噪聲測量
? 快速實時測量
? 即刻和擴展的FWHM線寬分析
? 不需要低噪聲參考光源
? 用戶友好界面
? 簡單的基于PC的操作
? 3U x 19英寸機架系統
? 可定制的配置、升級和選項
光學測試測量系統 | |
型號 | OE4000 |
波長 | 1530 – 1565 nm |
動力學范圍 | 60dB |
光學輸入功率范圍 | +5 to +15 dBm (PM-FC/APC) |
測量類型 | 頻率噪聲/零差相位 |
數據存儲與I/O | HDD / USB端口 |
帶寬分辨率 | 0.1 Hz – 200 kHz |
電源電壓 | 110 / 120 or 220 / 240 Vac ; 50 / 60Hz |
光學測試測量系統尺寸 | 3U x 19英寸機架式 |
低或高輸入功率范圍 | 可選 |
波長范圍(可選) | 740 – 935 / 965 – 1065 / 1000 – 1100 / 1260 – 1360 / 1530 – 1625 / 1950 – 2150 (nm) (選擇多波長范圍以及定制波長范圍請咨詢) |
可選擇的配置：
? 在630 nm - 2200 nm范圍內多個輸入波段
? 超低噪聲基底
? 相對強度噪聲測量
? 擴展的偏移頻率范圍可達2 GHz
? 擴展的輸入功率范圍
? 遠程操作
? 性能和頻率
? 定制范圍選擇和升級
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