Z3000 Standard Nicomp 380 系列納米激光粒度儀是在原有的經典型號380ZLS&S基礎上升級配套而來，采用動態光散射（Dynamic Light Scattering, DLS）原理檢測分析顆粒的粒度分布，同機采用多普勒電泳光散射原理（Doppler Electrophoretic Light Scattering, DELS）檢測ZETA電位。

Nicomp 380 系列納米激光粒度儀 

專為復雜體系提供高精度粒度解析方案

工作原理：

粒度分布：動態光散射（Dynamic Light Scattering, DLS）

ZETA電位：多普勒電泳光散射原理（Doppler Electrophoretic Light Scattering, DELS）

檢測范圍： 

粒徑范圍 0.3nm-10.0μm

ZETA電位 +/- 500mV

Z3000 Standard Nicomp 380 系列納米激光粒度儀是在原有的經典型號380ZLS&S基礎上升級配套而來，采用動態光散射（Dynamic Light Scattering, DLS）原理檢測分析顆粒的粒度分布，同機采用多普勒電泳光散射原理（Doppler Electrophoretic Light Scattering, DELS）檢測ZETA電位。粒徑檢測范圍 0.3nm – 10μm，ZETA電位檢測范圍為+/- 500mV。其配套粒度分析軟件復合采用了高斯（ Gaussian）單峰算法和擁有專項技術的 Nicomp 多峰算法，對于多組分、粒徑分布不均勻分散體系的分析具有*優勢。ZETA電位模塊使用雙列直插式方形樣品池和鈀電極，一個電極可以使用成千上萬次。另外，采用可變電場適應不同的樣品檢測需求。既保證檢測精度，亦幫用戶大大節省檢測成本。

技術優勢

1、APD&PMT雙檢測器；

2、可搭配不同功率光源；

3、雙列直插式電極和樣品池，可反復使用成千上萬次；

4、鈀電極；

5、精確度高，接近樣品真實值；

6、復合型算法：

 相位分析法（PALS)和頻譜分析法（FALS）自由切換

7、快速檢測，可以追溯歷史數據；

8、結果數據以多種形式和格式呈現；

9、符合USP,CP等個多藥典要求；

10、無需校準；

11、復合型算法：

（1）高斯（Gaussion）單峰算法與專項的Nicomp多峰算法自由切換

12、模塊化設計便于維護和升級；

（1）可自動稀釋模塊；

（2）搭配多角度檢測器（選配）；

（3）自動進樣系統（選配）；

Nicomp多峰分布概念

      基線調整自動補償功能和高分辨率多峰算法是Nicomp 380系列儀器所*的兩個主要特點，Nicomp創始人Dave Nicole很早就認識到傳統的動態光散射理論僅給出高斯模式的粒度分布，這和實踐生產生活中不相符，因為現實中很多樣本是多分散體系，非單分散體系，而且高斯分布靈敏性不足，分辨率不高，這些特點都制約了納米粒度儀在實際生產生活中的使用。其開創性的開創了Nicomp多峰分布理論，大大提高了動態光散射理論的分辨率和靈敏性。

圖一：Nicomp多分分布數據呈現

      如圖一：此數據為Nicomp創始人Dave Nicole親測其血液所得的真實案例。其檢測項目為：高密度脂蛋白，低密度脂蛋白和超低密度脂蛋白，由圖中可以看出，其血液中三個組分的平均粒徑分別顯示在7.0nm；29.3nm和217.5nm。由此可見，Nicomp分布模式可以有效反應多組分體系的粒徑分布。

Nicomp多峰分布優勢

       Nicomp系列儀器均可以自由在Gaussian分布模式和Nicomp多峰分布模式中切換。其不僅可以給出傳統的DLS系統的結果，更可以通過Nicomp多峰分布模式體現樣品的真實情況。依托于Nicomp系列儀器一系列優異的算法和高靈敏性的硬件設計，Nicomp納米激光粒度儀可以有效區分1:2的多分散體系。

圖二：高斯分布及Nicomp多峰分布對比圖

      如圖二：此數據為檢測93nm和150nm的標粒按照1:2的比例混合后所測得的數據。左邊為高斯分布（Gaussian）結果，右圖為Nicomp多峰分布算法結果，兩者都為光強徑數據。從高斯分布可以得到此混合標粒的平均粒徑為110nm-120nm之間，卻無法得到實際的多組分體系結構。從右側的Nicomp多峰分布可以得到結果為雙峰，即如數據呈現，體系中的粒子主要分布于98.2nm以及190nm附近，這和實際情況相符。

      為滿足不同客戶的實際檢測需求，我司的Nicomp 380 N3000會配備相應的配置，旨在為客戶們在控制成本的基礎上，得到需求的解決方案，達到收益大化。

產品優勢

模塊化設計

      Nicomp 380納米激光粒度儀是*在應用動態光散射技術上的基礎上加入多模塊方法的先進粒度儀。隨著模塊的升級和增加，Nicomp 380的功能體系越來越強大，可以用于各種復雜體系的檢測分析。

自動稀釋模塊

      帶有專項的自動稀釋模塊消除了人工稀釋高濃度樣品帶來的誤差，且不需要人工不斷試錯來獲得合適的測試濃度，這大大縮短了測試者寶貴時間，且無需培訓，測試結果重現性好，誤差率＜1%。

380/HPLD大功率激光器

      美國PSS粒度儀公司在開發儀器的過程中，考慮到在各種實驗測試條件中不同的需求，對不同使用條件和環境配置了不同功率的激光發生器。大功率的激光器可以對極小的粒子也能搜集到足夠的散射信號，使得儀器能夠得到極小粒子的粒徑分布。同樣，大功率激光器在測試大粒子的時候同樣也很有幫助，比如在檢測右旋糖酐大分子時，折射率的特性會引起光散射強度不足。                                    

      因為大功率激光器的特性，會彌補散射光強的不足和衰減，測試極其微小的微乳、表面活性劑膠束、蛋白質以及其他大分子不再是一個苛刻的難題。即使沒有色譜分離，Nicomp 380納米粒徑分析儀甚至也可以輕易估算出生物高分子的聚集程度。

雪崩二極管 (APD)高靈敏度檢測器

      Nicomp 380納米粒徑分析儀可以裝配各種大功率的激光發生器和雪崩二極管檢測器（相比較傳統的光電倍增管有3-5倍放大增益效果）。

      APD通常被用于散射發生不明顯的體系里來增加信噪比和敏感度，如蛋白質、不溶性膠束、濃度極低的體系以及大分子基團，他們的顆粒的一般濃度為1mg/mL甚至更低，這些顆粒是由對光的散射不敏感的原子組成。APD外置了一個大功率激光發生器模塊，在非常短的時間內就能檢測分析納米級顆粒的分布情況。

380/MA多角度檢測器（選配）

      粒徑大于100 nm的顆粒在激光的照射下不會朝著各個方向散射。多角度檢測角器通過調節檢測角度來增加粒子對光的敏感性來測試某些特殊級別粒子。Nicomp 380可以配備范圍在10°-175，步長0.7°的多角度測角器，從而使得單一90°檢測角測試不了的樣品，通過調節角度進行檢測，改善對大粒子多分散系粒徑分析的精確度。