萬深LA-S植物根系分析儀及系統標配光學分辨率4800×9600、A4加長的Microtek ScanMaker i800雙光源彩色掃描儀，大分析測量面積：反射稿為A4加長幅面（35.6 cm×21.6 cm），掃描根面積30 cm×20 cm，可分辨的小尺寸0.008 ×0.008 mm。

       萬深LA-S植物根系分析儀及系統用于對洗凈的植物根系進行多參數快速分析。
 

　　主要性能參數：
 

　　1、LA-S型植物根系分析儀系統可分析測量：
 

　　1)根總長；
 

　　2)根平均直徑；
 

　　3)根總面積；
 

　　4)根總體積；
 

　　5)根尖計數；
 

　　6)分叉計數；
 

　　7)交疊計數；
 

　　8)根直徑等級分布參數；
 

　　9)可不等間距地自定義分段直徑，自動測量各直徑段長度、投影面積、表面積、體積 等，及其分布參數；
 

　　10)根尖段長分布；
 

　　11)能進行根系的顏色分析，確定出根系存活數量，輸出不同顏色根系的直徑、長度、投影面積、表面積、體積；還可測根瘤菌體積和占比。
 

　　12)能進行根系的拓撲分析，自動確定根的連接數、關系角等，可單獨自動分析主根或任意一支側根的長度和分叉數等；自動分析根系分級伸展的等級分布情況，可達到5級側根的自動分析；
 

　　13)可單獨顯示標記根系的任意直徑段相應各參數(分檔數、檔直徑范圍任意可改)；
 

　　14)大批量的全自動根系分析，可對各自動分析結果圖進行編輯修正；
 

　　15)能用盒維數法自動測根系分形維數；
 

　　16)能進行根的分叉裁剪、合并、連接等修正，修正操作能回退，以快速獲得*正確的結果。精度：根長≤±1%；面積：優質圖像質量時<1%，標準圖像質量時≤3%；
 

　　17)能做根系生物量分布圖像的大批量自動化估算。
 

　　18)能自動測量油菜果莢的果柄、果身、果喙參數。能自動測量各種粒的芒長。
 

　　19)能測各類針葉的葉面積、長度、粗細。
 

　　20)匹配專門的雙光源照明系統，提供高分辨率的彩色或黑白圖像，去除了陰影和不均勻現象的影響，有效保證圖像質量；
 

　　21)采用非統計學方法測量計算出交叉重疊部分根系長度等，可保存或讀取TIFF、BMP、PNG、JPEG、PCX標準格式的圖像。
 

　　22)可兼做針葉面積、體積測量，以及棉纖維粗細、長度測量。
 

　　2、人工輔助修正：圖像可放大縮小和局部觀察，可實現鼠標區域選擇統計、對污染區的輔助裁剪或橡皮擦修正。
 

　　3、統計效果監視：監視和修正植物對象分析的精度。
 

　　4、自動雜質剔除：根據尺寸等方面的區別，進行自動雜質剔除。
 

　　5、輔助測量功能：
 

　　尺寸標定：自帶標定功能，實現半自動的尺寸標定，XY向可分別標定修正；
 

　　長度測量：具有跟隨放大鏡功能，通過鼠標拖動精確測量；
 

　　6、數據導出
 

　　分析圖像、分布圖、結果數據可保存，分析結果輸出至Excel表，可輸出分析標記圖。
 

　　萬深LA-S植物根系分析儀及系統標配光學分辨率4800×9600、A4加長的Microtek ScanMaker i800雙光源彩色掃描儀，大分析測量面積：反射稿為A4加長幅面(35.6 cm×21.6 cm)，掃描根面積30 cm×20 cm，可分辨的小尺寸0.008 ×0.008 mm。植物圖像分析測量精度(由掃描儀決定，可軟件部分校正)：X向≤±0.5 %，Y向≤±0.25%；長度測量重現性誤差<±0.25%；面積測量重現性誤差<±0.25%；臺間測量差異<±0.25%。測量分析時間：30~60秒。
 

　　*選配：品牌一體機電腦(酷睿雙核CPU /4G內存/1G獨立顯卡/500G硬盤/ 19.5”彩顯 /無線網卡)。若需大幅面分析，請選配：光學分辨率2400×4800dpi、A3的Microtek Phantom 9900XL plus掃描儀。
 

　　若需要對原位根系圖像進行分析，請單獨選擇萬深LA-S根系分析系統增強版(原位根系圖像分析系統)