EyeTech Combi是顆粒分析終解決方案，它集成了*的LOT（激光光阻法）與專業的圖像處理識別技術，提供樣品粒度、粒形和濃度數據等完整的顆粒表征。*的激光阻隔時間分析技術（LOT），可快速準確地進行粒度分析；通過使用視頻的精密動態圖像分析技術，準確描述非球形材料；其測量結果與顆粒或介質的物理光學特性無關。

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  EyeTech粒度粒形分析儀集成了*的LOT（激光光阻法）與專業的圖像處理識別技術，提供樣品粒度、粒形和濃度數據等完整的顆粒表征。

  • *的激光阻隔時間分析技術（LOT），可快速準確地進行粒度分析；

  • 通過使用視頻的精密動態圖像分析技術，準確描述非球形材料；

  • 其測量結果與顆粒或介質的物理光學特性無關。

  
  

  EyeTech粒度粒形分析儀的靈活性可為用戶提供：

  • 監測動力學過程

  • 通過記錄大小vs形狀繪制多維數據

  • 分析復雜數據以反應分布中的次要分布

  • 通過從數據庫中調用記錄圖片來識別分布中的單個粒子

  • 生成標準體積和數量分布結果

  
  

  激光光阻測量技術與視頻分析生成的綜合信息，可通過直觀的數據報告軟件輕松訪問。 結果可以顯示在大量的表格和圖表中，可以自定義以顯示所需的信息。 軟件可以輕松進行數據比較，從而可以多圖疊加顯示或編輯數據對比表。 只需單擊鼠標，便可在WORD文檔中生成示例報告。 該文件包括有關樣品制備，尺寸和形狀結果的信息，并附有樣品的圖像或視頻：

  • 自動生成測量報告

  • 定制實時圖表

  • 方便重新處理存儲的圖像

  • 設定多個用戶級別

  • 安裝向導輕松啟動

  • 符合21 CFR Part 11審計追蹤處理

  
  

  EyeTech是一個模塊化測量系統，可以安裝多種不同的測試單元。 隨著快速更換測量單元，這款多功能儀器可以分析液體，乳劑，干粉，纖維，磁性顆粒，加熱液體和氣霧劑中的顆粒。這種應用導向的測量方法可確保您的樣品根據其特定性質進行測量。
  

• • *的激光阻隔時間分析技術（LOT），可快速準確地進行粒度分析

  • 通過使用視頻的精密動態圖像分析技術，準確描述非球形材料

  • 其測量結果與顆粒或介質的物理光學特性無關

  • ACM-101 磁力攪拌樣品槽

  • ACM-102 機械攪拌樣品槽

  • ACM-104 流通樣品槽

  • ACM-104L 纖維流通樣品槽

  • ACM-106 氣溶膠流通樣品槽

  • ACM-108 微流通樣品槽

  • ACM-110 顯微鏡載玻樣品槽

  • ACM-112 粉末自由下落樣品槽

  • AC-10 氣溶膠流量控制單元

  • LFC-101 液體流量控制器

  • PD-10 粉體分散器