近代科學技術的許多學科對各種薄膜的研究和應用日益廣泛，因此，測得薄膜厚度和光學參數(shù)已變得更加迫切和重要。在實際工作中，常常使用橢圓偏振法來進行測量。這種方法測量靈敏度和精度較高，并且是非破壞性測量。他能同時測定薄膜的厚度和折射率。

- 儀器介紹

近代科學技術的許多學科對各種薄膜的研究和應用日益廣泛，因此，測得薄膜厚度和光學參數(shù)已變得更加迫切和重要。在實際工作中，常常使用橢圓偏振法來進行測量。這種方法測量靈敏度和精度較高，并且是非破壞性測量。他能同時測定薄膜的厚度和折射率。

本產品為手動方式調節(jié)儀器，測量薄膜的厚度和光學參數(shù)。清晰的展示了橢圓偏振測厚儀的各個部件的結構功能，調節(jié)方法，使用戶可詳細的了解橢圓儀的原理結構，并培養(yǎng)其動手操作能力。