當前位置:儀器網 > 產品中心 > 化學分析儀器>光譜>X射線熒光光譜儀(XRF)> EDX8800E-X熒光光譜儀
返回產品中心>EDX8800E-X熒光光譜儀規格:1.元素分析范圍:鈉-鈾(NA-鈾)抽真空2.元素含量分析范圍:1PPM~99.99%3.Z低檢出限:1PPM
EDX8800EX熒光光譜儀規格:
1.元素分析范圍:鈉-鈾(NA-U)抽真空
2.元素含量分析范圍:1PPM~99.99%
3.低檢出限:1PPM
4.能量分辨率129±5ev
5.樣品腔尺寸:520*310*120(MM)
6.多次量測重復性(以標準樣品為準):±0.05%(高含量)
±0.002%(微量)
*工作穩定性(以標準樣品為準):±0.05%(高含量)
±0.0025%(微量
EDX8800EX熒光光譜儀應用區域
1.ROHS\無鹵檢測指令
CD <100 PB<1000
HG <1000 Cr6 <1000
PBBS <1000
PBDEs <1000
2.合金分析領域
銅合金 不銹鋼 AL 鍍層
3.包裝指令檢測標準(94/62/EC)
CD PB Hg Cr6 <100
4.玩具指令檢測標準
EN71-3
5 .鍍層成分分析
鍍層厚度分析
鍍層環保檢測
*您想獲取產品的資料:
個人信息: