SS-110 光譜測量儀
參考價 | ¥ 1 |
訂貨量 | ≥1 件 |
- 公司名稱 點將(上海)科技股份有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號 SS-110
- 所在地 上海市
- 廠商性質 生產廠家
- 更新時間 2024/6/26 10:33:55
- 訪問次數 480
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SS-110光譜測量儀的波長范圍為340至820 nm。SS-110是一種易于使用,性價比高、多功能光譜測量系統,可以連接到電腦。典型的應用包括測量(光譜輸出的能量密度,光子通量密度,或照度)不同輻射源(通常為植物或人類照明),與天然和合成的表面反射率和透射率的測量和材料(通常是植物冠層葉片)
產地: 美國
用途:SS-110光譜測量儀的波長范圍為340至820 nm。SS-110是一種易于使用,性價比高、多功能光譜測量系統,可以連接到電腦。典型的應用包括測量(光譜輸出的能量密度,光子通量密度,或照度)不同輻射源(通常為植物或人類照明),與天然和合成的表面反射率和透射率的測量和材料(通常是植物冠層葉片)。還可以分別測量每種顏色的光強和波長。可以利用光譜輸出測量來提高光照效率,模仿季節變化來提高光照效率。
SS-110光譜測量儀特點:
·為實驗室和現場使用而設計的小型輕量設備
·USB接口,使用便捷
·耐用的防水外殼
·高性價比,低功耗
·可連接電腦作為便攜設備使用
SS-110光譜測量儀技術參數:
波長范圍 | 340 to 820 nm |
波長測量間隔 | 1 nm |
波長分辨率 | 3 nm |
波長精度 | ± 0.5 nm |
波長重復性 | ± 0.2 nm |
模擬數字分辨率 | 14位 |
信號噪聲比 | 1500:1(大信號) |
雜散光 | ≤ 0.25 % 在 590 nm |
積分時間范圍 | 10毫秒至10秒 |
測量重復性 | 小于1%(波長大于400 nm) |
方向(余弦)響應 | 5%(天頂角75°) |
視野 | 180°(向上);25°或150°(面朝下) |
操作環境 | - 20至70 ℃,0至100%相對濕度 |
溫度響應 | -0.1 ± 0.1 %每℃ |
軟件 | Apogee Spectrovision(windows XP或更高版本,MAC10.10或更高版本) |
電源 | usb供電 |
尺寸 | 高:89.3 mm, 寬:50.8 mm,深度:38.1mm |
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