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多系統膜厚計MMS PC2

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多系統膜厚計MMS PC2設計簡單,非常耐用,使用壽命長;塑料外殼,減輕重量方便手持;測量時間短,只需要幾秒就能夠完成測量;

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日本KETT 多系統膜厚計MMS PC2

技術參數表:

仕様フィッシャースコープ MMS PC
MMC PC パーマ測定方式:電磁誘導式
測定対象:磁性金屬の非磁性被膜
MMC PC イソ測定方式:渦電流式
測定対象:非磁性金屬の被膜
MMC PC デュアル測定方式:電磁誘導式
測定対象:磁性金屬の非磁性被膜
測定方式:渦電流式
測定対象:非磁性金屬の絶縁被膜
MMC PC ニッケル測定方式:電磁誘導式
測定対象:磁性/非磁性金屬の磁性被膜
測定方式:位相感応渦電流式
測定対象:(例えばニッケルなど)
MMC PC フェライト測定方式:電磁誘導F式
測定対象:オーステナイト鋼のフェライト含有量
MMC PC シグマ測定方式:位相感応渦電流式
測定対象:磁性/非磁性金屬の金屬被膜
MMC PC スルーホール測定方式:渦電流式
測定対象:プリント基板のスルーホール銅被膜
MMC PC PCB測定方式:電気抵抗式
測定対象:プリント基板の銅被膜
MMC PC デュープレックス測定方式:位相感応渦電流式
測定対象:磁性/非磁性金屬の被膜
MMC PC ベータ測定方式:ベータ線後方散亂量
測定対象:お問い合わせください。
測定範囲モジュールにより異なります、お問い合わせください。
測定精度モジュールにより異なります、お問い合わせください。
メモリ100萬件の測定データ、1000本のアプリケーションメモリ
統計機能測定回數
表示方法デジタル(カラーLCD、タッチパネル方式)
入出力端子USB、LANカード、CFカード
電源ACアダプタ
寸法?質量351(W)×270(D)×165(H)mm、5kg多系統膜厚計MMS PC2

 


北京布拉德科技發展有限公司

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