JSM-7600F 熱場發射掃描電子顯微鏡新型并且功能強大的 FE-SEM，集超高分辨率成像和強化的分析功能于一體

JSM-7600F 熱場發射掃描電子顯微鏡

JSM-7600F 熱場發射掃描電子顯微鏡新型并且功能強大的 FE-SEM，集超高分辨率成像和強化的分析功能于一體

分辨率：GB 模式下為1.5 nm （1 kV），1.0 nm（15 kV）

· 加速電壓： 0. 1kV to 30 kV

· 放大倍數： 25到1,000,000x

· 可與冷場FEG SEM媲美的超高分辨率成像在GB 模式下為1.5 nm（1 kV），1.0 nm （15 kV）

· In-lens 熱場 FE 槍

· zui大束光闌角控制鏡，不管束流大小，均可獲得*的電子束照射。

· 流 200 nA（15 kV）時的分析能力可以支持各種類型的樣品分析（WDS、EDS等）

· γ過濾器能控制能量選擇或二次電子及背散射電子像的圖像混和率。

· 柔和光束模式可將電子束對超表面成像引起的損傷降低到zui低程度

· 節能并且環保

JSM-7600F 熱場發射掃描電子顯微鏡規格