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X熒光光譜儀

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產品特點1.高性能高精度X熒光光譜儀(XRF)2.計算機/MCA(多通道分析儀)2048通道逐次近似計算法ADC(模擬數字轉換器)3.MultiRay.運用基本參數法(FP)軟件,對樣品進行精確的鍍層厚度分析,可對鍍液進行定量分析

詳細信息 在線詢價

產品特點

1. 高性能高精度X熒光光譜儀(XRF)

2. 計算機 / MCA(多通道分析儀)

2048通道逐次近似計算法ADC(模擬數字轉換器)

3. Multi Ray. 運用基本參數法(FP)軟件,對樣品進行精確的鍍層厚度分析,可對鍍液進行定量分析。

4. MTFFP (多層薄膜基本參數法) 模塊進行鍍層厚度及全元素分析

勵磁模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A1

吸收模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A2

線性模式進行薄膜鍍層厚度測量

相對(比)模式  無焦點測量 DIN 50987.3.3/ ISO 3497

多鍍層厚度同時測量

單鍍層應用 [如:Cu/ABS等]

雙鍍層應用 [如:Ag/Pd/Zn, Au/Ni/Cu等]

三鍍層應用 [如:Au/Ni-P/Cu/Brass等]

四鍍層應用 [如:Cr/Ni/Cu/Zn/SnPb等]

合金鍍層應 [如:Ni-Zn/Fe Sn-Ni/ABS  Pd-Ni/Cu/ABS等]

5. Multi-Ray. 快速、簡單的定性分析的軟件模塊。可同時分析20種元素。半定量分析頻譜比較、減法運算和配給。

Multi-Ray 金屬行業精確定量分析軟件。可同時分析8種元素。*小二乘法計算峰值反卷積。采用盧卡斯-圖思計算方法進行矩陣校正及內部元素作用分析。金屬分析精度可達±0.02%,貴金屬(8-24 Karat) 分析精度可達±0.05kt

Multi-Ray. 對鍍液進行分析。采用不同的數學計算方法對鍍液中的金屬離子進行測定。含全元素、內部元素、矩陣校正模塊。

6. Multi-Ray WINDOWS 7軟件操作系統

7. 完整的統計函數均值、 標準差、 低/高讀數,趨勢線,Cp 和 Cpk 因素等

8. 自動移動平臺,用戶使用預先設定好的程序進行自動樣品測量,自動多點分析。每個階段的文件有*多 25 個不同應用程序。特殊工具如"線掃描"和"格柵"。每個階段文件包含統計軟件包。包括自動對焦功能、方便加載函數、瞄準樣品和拍攝、激光定位和自動多點測量功能。


產品優勢

1. 鍍層檢測,檢測層數范圍1-6層檢測鍍液的元素含量范圍為1ppm-99.99%

2. 全自動操作平臺,平臺移動范圍可達160*160*100mm(X*Y*Z);

3. 激光定位和自動多點測量功能;

4. 檢測的樣品可以為固體、液體粉末;

5. 運行及維護成本低、無易損易耗品,對使用環境相對要求低;

6. 可進行未知標樣掃描、無標樣定性、半定量分析;

7. 操作簡單、精準無損、高品質、高性能、高穩定性,快速檢測(5-40秒依配置而定);

8. 配置:SDD探測器、超長壽命X射線管、SPELLMAN高壓電源,儀器使用壽命長。

9. 超高分辨率:125±5電子伏特(電子伏特越低分辨率越高,檢測越精準,這是能譜儀一個非常關鍵的技術指標);

10. 可針對客戶個性化要求量身定做輔助分析配置硬件;

11. 軟件升級;

12. 無損檢測,一次性購買標樣可使用;

13. 使用安心無憂,售后服務響應時間24H以內,提供保姆式服務;

14. 環保RoHS分析功能,實現鍍層、環保和成份分析同時檢測

15. 具有遠程服務功能,在客戶請求的情況下,可遠程進行儀器維護;

16. RoHS規定的元素測試,待測物質的Sb/As/Se/Ba元素,鹵素要求的Cl/Br元素,八大有害重金屬:鉛:Pb、汞:Hg、鎘:Cd、銻:Sb、硒:Se、砷:As、鋇:Ba、鉻:Cr。



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