QCL加強(qiáng)的FT-IR顯微鏡/紅外激光成像HYPERIONII是紅外顯微鏡領(lǐng)域的創(chuàng)新力量

QCL加強(qiáng)的 FT-IR 顯微鏡/紅外激光成像

       HYPERION II是紅外顯微鏡領(lǐng)域的創(chuàng)新力量。它提供低至衍射極限的紅外成像，并在ATR顯微鏡中設(shè)定基準(zhǔn)。它將FT-IR和紅外激光成像（ILIM）顯微鏡結(jié)合在一個(gè)設(shè)備中，提供了三種測(cè)量模式：透射、反射和ATR。

功能μ-FT-IR探測(cè)器的選擇：寬，中，窄頻段LN2-MCT，熱電冷卻（TE）MCT；

用于紅外成像的焦平面陣列探測(cè)器（64x64或128x128 像素）；

通過激光紅外成像模塊（ILIM，激光等級(jí)1）實(shí)現(xiàn)可選QCL；

物鏡選擇：3.5x/15x/36x/74x IR、20xATR、15xGIR、4x/40xVI；

光譜范圍擴(kuò)展 - 從近紅外線（NIR）到遠(yuǎn)紅外線（FIR）；

光闌選擇：手動(dòng)刀口，孔徑輪自動(dòng)刀口。近紅外的金屬孔；

附件和樣品臺(tái)的選擇：宏程序紅外成像配件、冷卻/加熱樣品臺(tái)、樣品倉等；

視覺/光學(xué)工具的選擇：暗場(chǎng)照明、熒光照明、可見光偏振器、紅外偏振器等。

HYPERION II可以提供光譜和可見光圖片的匹配。適用于任何測(cè)量模式（包括 ATR 成像）

突破衍射極限的高靈敏度 FT-IR 顯微鏡和焦平面陣列（FPA）檢測(cè)器成像

通過（可選）紅外激光成像模塊（ILIM，激光等級(jí)1）將FT-IR和QCL技術(shù)結(jié)合起來

所有測(cè)量模式下的紅外激光成像（ATR、透射、反射）

相干降低技術(shù)為非人為處理的激光成像測(cè)試，無靈敏度或速度損失

高成像速度0.1 毫米2每秒 （FPA， 全頻譜）6.4 毫米2 每秒（ILIM，單波數(shù)）

可選的TE-MCT探測(cè)器，用于在無液氮的情況下進(jìn)行高空間分辨率和靈敏度的紅外顯微鏡檢測(cè)

發(fā)射光譜功能和可選光譜范圍擴(kuò)展

應(yīng)用領(lǐng)域生命科學(xué)/細(xì)胞成像

藥物

發(fā)射率研究（例如 LED）

失效和原因分析

刑偵

微塑料

工業(yè)研發(fā)

聚合物和塑料

表面表征

半導(dǎo)體