簡介：紫外-可見-近紅外分光光度計（UV-VIS-NIRSpectroscopy）是利用某些物質的分子吸收紫外(200~400nm)、可見光(400~780nm)、近紅外(780~3000nm)區域的輻射來進行分析測定的方法

簡介：

紫外-可見-近紅外分光光度計（UV-VIS-NIR Spectroscopy）是利用某些物質的分子吸收紫外(200~400nm)、可見光(400~780nm)、近紅外(780~3 000nm)區域的輻射來進行分析測定的方法。廣泛用于有機和無機物質的定性和定量測定以及純度鑒定、結構分析。

光學系統圖

系統框圖

應用領域：

紫外可見近紅外分光光度儀可實現固體、薄膜、粉末、液體材料反射、透射、吸收的無損測量。適用于薄膜材料或溶液的吸收、透射和反射光譜的測定，也可用于光學材料（包括高性能的玻璃和鍍膜）的測量，具有分析精度高、測量范圍廣、分析速度快、樣品用量少等優點，UV-VIS-NIR Spectroscopy已成為探索自然、發展科學技術和生產的強有力的工具，是現代化分析實驗室的常規儀器之一。

主要技術指標：

工作波長范圍：190~2600nm

測量方式：透過、反射

波長準確度：±0.5nm（UV/VIS）;±8nm（NIR）

波長重復性：0.3nm(UV/VIS)； ±4nm（NIR）

采樣間隔：0.1nm、0.2nm、0.5nm、1nm、1.5nm、2nm、5nm、10nm

光度范圍：0.300～2.5A

光度準確度：±0.3%T

光度重復性：0.2%T

基線平直度：±0.008A（200~2500nm，預熱30分鐘后）

光譜帶寬：0.2nm~10nm

雜散光：≤0.2%T（220nm）

外形尺寸：850×610×250mm