產品簡介X射線熒光光譜(XRF)是一種廣泛用于測量鍍層厚度和成分的鍍層技術,其具有無損、快速和高準確度等優點
產品簡介 X射線熒光光譜(XRF)是一種廣泛用于測量鍍層厚度和成分的鍍層技術,其具有無損、快速和高準確度等優點。 ScopeX COAT高階款分析儀適用于多層鍍層厚度測量及材料分析,可定量和定性分析樣品的元素組成,也可用于鍍層和鍍層系統的厚度測量。被廣泛應用于汽車制造、航空航天、造船、五金產品、標準件、電子元器件、電器零部件、機械零部件、衛浴裝飾產品、珠寶首飾等領域。 產品特性 一鍵智能操作 “開機啟動—瞄準測試—查看結果”,整個分析過程僅需數秒便可完成,操作簡單,即使非技術人員也可輕松掌握。 輕松自定義 在測試基礎上,提供多種自定義設置,可以根據檢測需要變更測試條件,也可根據篩選需要變更閾值,實現對不同材料、不同元素的個性化篩選。 多形式的數據輸出 可以以PDF格式或者Excel格式制作分析數據報告。使用Excel格式導出數據時,還可在表格中對數據進行詳細確認和編輯。用戶還可自定義創建專業報告:包括公司標志、公司地址、檢測結果、光譜譜圖及其他樣品信息(如產品描述、產地、批號等)。 完善的安全防護 在測量過程中,儀器左右兩側輻射指示燈自動呼吸閃爍,內置DoubleBeam™ 技術自動感知儀器前方有無樣品,提高射線的安全性和防護等級。 準確可靠的定性定量方法 集成了浪聲前沿的Super-FP算法、校正曲線法等算法,使得儀器不僅測量速度更快,測量準確性更高,測量一致性更強。 高品質進口探測器 儀器選用適合于多元素鍍層的分析進口探測器,噪音小,可靈活地應對未來鍍層結構。
主要規格 測定原理 X射線熒光分析法 測定方法 能量色散型 測定范圍 Na(鈉)—U(鈾) 樣品室尺寸 368*304*78mm 樣品重量 2.5KG 開蓋方式 自動控制 X射線發生部 X射線管 大功率側窗X射線管 電壓 上限50KV 電流 上限1mA 冷卻方式 空冷 準直器 5mm,3mm,1mm,0.5mm 檢測器 類型 大面積SDD探測器 制冷方式 Peltier制冷 樣品室 測定環境 大氣,真空(選配)、氦氣(選配) 樣品觀察 500萬像素高清工業攝像頭 數據處理部 PC處理器(CPU) i3-7100同等主頻或以上 內存(RAM) DDR4 4G內存或以上 硬盤容量(ROM) 1TB HDD或256GB SSD或以上 OS Windows 10 環境設置 溫度條件 10°C~35°C 相對濕度 40~70%(不結露) 電源 220VAC 額定功率 100W 設置例 主機尺寸 570*402*400mm 主機重量 47KG 主體配置: 1.高壓電源。 2.大樣品測量腔。 3.高清晰攝像頭。 4.自動切換型準直器和濾光片。 5.計算機、激光打印機。 6.光譜分析軟件套裝 7.標準物質:系統校正校準樣片 8.儀器的其它配置:樣品杯 、測試薄膜、保險絲。
ScopeX COAT高階款分析儀適用于多層鍍層厚度測量及材料分析,可定量和定性分析樣品的元素組成,也可用于鍍層和鍍層系統的厚度測量。被廣泛應用于汽車制造、航空航天、造船、五金產品、標準件、電子元器件、電器零部件、機械零部件、衛浴裝飾產品、珠寶首飾等領域。
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