儀器簡介 Bruker全新設計的新一代直讀光譜儀Q2ION在金屬材料分析的便捷性和簡易性上,帶來了一場新的革命
儀器簡介 | |
主要特點 的設計使得Q2 ION的重量只有不到20kg,可輕易攜帶到周邊的場所進行現場分析工作。除此之外,儀器還有專用配套的行李箱可供用戶選擇,以方便儀器的攜帶及運輸。 Q2 ION采用了技術—平面視場CCD光學系統,該技術使得Q2 ION的設計突破了傳統光譜的桎梏。光學系統所配備的動態溫度補償技術(AAC),確保儀器即便在10°C至45°C之間的外界溫度變化下也具有極其優異的穩定性。 | |
技術參數 光學系統 非渡膜CCD檢測器,具有的暗電流 平面光柵 波長覆蓋范圍:170-685nm 分辨率:30pm 氬氣驅氣以確保很好光通量。 譜圖解析技術 動態溫度補償技術,確保在10至45度的外界溫度下具有很好的穩定性 分析方法組件 可應用于各種不同基體 覆蓋所有主要元素及合金類型 適應未來升級需要 激發源 免維護,兩相PWM激發源 頻率50-1000Hz 火花臺 免維護 檢測期間氬氣消耗2.5l/min 軟件 給予Windows的操作軟件 用戶分級權限 定性及定量分析 操作軟件含分析數據庫及辦公軟件接口 牌號庫功能 電源 100-240V(50/60Hz) 檢測期間200W,待機時50W 16A慢融保險絲或25A慢融保險絲 尺寸 長X寬x高:440mm×390mm×220mm 重量:19kg. |
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